纳米技术中心2003级硕士研究生课程 ∠射线 这种方法只适用于晶态的纳米粒子晶粒度的评估 实验表明,晶粒度小于50nm时,测量值与实际值相近, 反之测量值往往小于实际值。 行射线半高强度处的线宽度B与晶粒尺寸d的关系 为:d=089A/ Bcon 6 该式也称谢乐( Scherrer)公式。式中d晶粒大 小,表示晶粒在垂直于hk晶面方向的平均厚度,nm; —X射线波长,nm;θ—布拉格角(半衍射角);B 衍射线的本征加宽度,又称晶粒加宽,即经双线校正和 仪器因子校正得到的完全由于晶粒大小引起的衍射线加 宽。通常用衍射峰极大值一半处的宽度表示,rad。谢乐 方程测定晶粒大小适宜范围为3-200ma 7纳米技术中心 2003级硕士研究生课程 Ｘ射线法 这种方法只适用于晶态的纳米粒子晶粒度的评估。 实验表明，晶粒度小于50nm时，测量值与实际值相近， 反之测量值往往小于实际值。 衍射线半高强度处的线宽度B与晶粒尺寸d的关系 为：d=0.89λ/Bconθ 该式也称谢乐（Scherrer）公式。式中d—晶粒大 小，表示晶粒在垂直于hkl晶面方向的平均厚度，nm； λ—X射线波长，nm;θ—布拉格角（半衍射角）；B— 衍射线的本征加宽度，又称晶粒加宽，即经双线校正和 仪器因子校正得到的完全由于晶粒大小引起的衍射线加 宽。通常用衍射峰极大值一半处的宽度表示，rad。谢乐 方程测定晶粒大小适宜范围为3~200nm。 回目录页