纳米技术中心2003级硕士研究生课程 射线性 电镜观察法测量的是颗粒度而不是晶粒度,Ⅹ射线衍射线 宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。 线宽法是测定微细晶粒度的最好方法,它具有简便、快速 和直观的优点。当颗粒为单晶时,该法测得的是颗粒度;当颗 粒为多晶时,该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶 粒度 许多物质实际上是由许多细小晶体紧密聚集而成有二次聚 集态,这些细小的单晶称为一次聚集态,即晶粒。晶粒小于 200nm以下时,由于每一个晶粒中晶面数目减少,使得衍射线 条弥散而产生明显的宽化,晶粒越小,衍射线条的宽化越严 重,使衍射强度在2θ+Δθ范围内有一个较大分布。当晶体内 不存在应力和缺陷时,可以利用晶粒大小与衍射线宽化程度的 关系来测量晶粒大小。纳米技术中心 2003级硕士研究生课程 X射线法 • 电镜观察法测量的是颗粒度而不是晶粒度，X-射线衍射线 宽法是测定颗粒晶粒度的最好方法。 • 线宽法是测定微细晶粒度的最好方法，它具有简便、快速 和直观的优点。当颗粒为单晶时，该法测得的是颗粒度；当颗 粒为多晶时，该法测得的是组成单个颗粒的单个晶粒的平均晶 粒度。 • 许多物质实际上是由许多细小晶体紧密聚集而成有二次聚 集态，这些细小的单晶称为一次聚集态，即晶粒。晶粒小于 200nm以下时，由于每一个晶粒中晶面数目减少，使得衍射线 条弥散而产生明显的宽化，晶粒越小，衍射线条的宽化越严 重，使衍射强度在2θ+Δθ范围内有一个较大分布。当晶体内 不存在应力和缺陷时，可以利用晶粒大小与衍射线宽化程度的 关系来测量晶粒大小。 下一页 回目录页