3)COUPLED:耦合扫描模式，按下此 键时，可利用B2手动同时旋转靶台 和传感器的角位置一传感器的转 角自动保持为靶台转角的2倍（如图 20 7),而显示器的下行此时显示靶台的 角位置，也可用B-LIMIT设置自动 扫描时传感器的上限角和下限角 4)归零按键是ZERO:按下此键后，靶 图7：COUPLED模式下靶台和传感器的角位置 台和传感器都回到0位，但此0位是上次实验时人为确定的. B5有五个操作键，它们依次是： 1)RESET:按下此键，靶台和传感器都回到测量系统的0位置，所有参数都回到缺 省值，X光管的高压断开： 2)REPLAY:按下此键，仪器会把最后的测量数据再次输出至计算机或记录仪上； 3)SCAN(NO/OFF):此键是整个测量系统的开关键，按下此键，在X光管上就加了 高压，测角器开始自动扫描，所得数据会被储存起来（若开启了计算机的相关程 序，则所得数据自动输出至计算机.)； 4) :此键是声脉冲开关； 5)HV(ON/OFF):此键开关X光管上的高压，它上面的指示灯闪烁时，表示已加了 高压 2、吸收体 如图8所示，实验中用到两种吸收体来研究X射线衰减与吸收体厚度、吸收体物 质（原子序数）的关系。 图8吸收体 吸收体1：铝质，厚度分别为0,0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3mm。 吸收体2：厚度均为0.5mm,材质分别为聚苯乙烯（原子序数Z=6)、铝(Z=13)、铁(Z=26) 铜(Z=29)、锆(Z=40)、银(Z=47)。 a)操作步骤如3)中a)~c)所示； b)根据实验结果计算晶体的晶格常数. 【实验内容】 1.观察X射线影像，记录下看到的情况，并进行分析。 1)研究荧光屏亮度变化 移走准直器，在传感器扫描模式下将传感器转至一合适角度，使之不影响X射线 对荧光屏的照射。移去荧光屏保护盖。 关闭铅玻璃门，打开高压源，设置加在X光管上的电流为1mA,改变高压值从0 -7-- 7 - 3) COUPLED：耦合扫描模式，按下此 键时，可利用 B2 手动同时旋转靶台 和传感器的角位置——传感器的转 角自动保持为靶台转角的 2 倍（如图 7），而显示器的下行此时显示靶台的 角位置，也可用β - LIMIT 设置自动 扫描时传感器的上限角和下限角． 4) 归零按键是 ZERO：按下此键后，靶 台和传感器都回到 0 位，但此 0 位是上次实验时人为确定的． B5 有五个操作键，它们依次是： 1) RESET：按下此键，靶台和传感器都回到测量系统的 0 位置，所有参数都回到缺 省值，X 光管的高压断开： 2) REPLAY：按下此键，仪器会把最后的测量数据再次输出至计算机或记录仪上； 3) SCAN(NO/OFF)：此键是整个测量系统的开关键，按下此键，在 X 光管上就加了 高压，测角器开始自动扫描，所得数据会被储存起来（若开启了计算机的相关程 序，则所得数据自动输出至计算机．）； 4) ：此键是声脉冲开关； 5) HV(ON/OFF)：此键开关 X 光管上的高压，它上面的指示灯闪烁时，表示已加了 高压． 2、吸收体 如图 8 所示，实验中用到两种吸收体来研究 X 射线衰减与吸收体厚度、吸收体物 质（原子序数）的关系。 图 8 吸收体 吸收体 1：铝质，厚度分别为 0，0.5,1.0,1.5,2.0,2.5,3mm。 吸收体 2：厚度均为 0.5mm，材质分别为聚苯乙烯（原子序数 Z=6）、铝（Z=13）、铁（Z=26）、 铜（Z=29）、锆（Z=40）、银（Z=47）。 a) 操作步骤如 3)中 a) ~ c)所示； b) 根据实验结果计算晶体的晶格常数． 【实验内容】 1． 观察 X 射线影像，记录下看到的情况，并进行分析。 1) 研究荧光屏亮度变化 移走准直器, 在传感器扫描模式下将传感器转至一合适角度，使之不影响 X 射线 对荧光屏的照射。移去荧光屏保护盖。 关闭铅玻璃门，打开高压源，设置加在 X 光管上的电流为 1mA，改变高压值从 0 图 7：COUPLED 模式下靶台和传感器的角位置