点击下载:上海交通大学:《材料组织结构表征》课程教学资源(课件讲义)2019-X射线衍射7-晶格参数的精确测定
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内标法 利用一种已知点阵参数的物质(内标样品)来 标定衍射谱线 0 一般选Si或SiO,粉末作为内标样品,如果 被测试样点阵参数较大,可选AS2O3粉末 sine-d; sin Onk 28hk1 29s内标法 • 利用一种已知点阵参数的物质(内标样品)来 标定衍射谱线。 • 一般选 Si 或 SiO2 粉末作为内标样品,如果 被测试样点阵参数较大,可选 As2O3 粉末 2θs 2θhkl s hkl s dhkl d sin sin
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