点击下载:电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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裸片测试(或探针测试) 测试头 主箱 晶片探针 (a) 1/0 PC板 探针卡 口口OD口 口口口口口 团 IC 探针 环氧 探针头 口口 口口口 2020/9/4 集成电路可测性设计 13 (h) (c)2020/9/4 集成电路可测性设计 13 裸片测试(或探针测试) 测试头 晶片探针 主箱 ( ) a ( b ) ( c ) IC 探针 环氧 PC板 I/O 探针卡 探针头
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