或 E=m-E-如 (7.1.6) 即固体样品的光电子能量公式。其中仪器功函数ψ对每台谱仪来说通常是一个定值(一般 为几个eV),与样品无关,可以通过测定已知电子结合能的导电样品所得到的光电子能谱 图来确定。固定入射光束的能量hv,用电子能谱仪测量光电子的动能E,就可以得到电 子在原子轨道上以费米能级为能量参考点的结合能E ⅪPS通常采用能量为1000~1500eV的X射线源,能激发深层芯能级的电子。因为周 期表中每一种元素的原子结构都不同于其它元素,其内层电子的结合能是特征性的,这样 就可以用XPS来鉴别化学元素 UPS通常采用He气放电产生的Hel(21,2ev)或HeI(40.8eV)共振线作激发源。与 κ射线源相比,其能量较低,只能使原子的较高占据能级的价电子电离,所以它主要用于研 究价电子和能带结构的特征 用X射线作激发光源时,样品经一次激发除得到光电子外,外层电子向内层跃迁过程 中释放的能量,又使核外另一电子激发成为自由电子,或发射特征X射线(见图7.1.1)。收 集这两种信号,就分别得到 Auger电子谱和X射线荧光光谱。虽然,X射线也可以用来激 发俄歇电子,目前使用的AES都用电子作激发源,因为电子激发得到的俄歇电子谱强度较 光子或电子在轰击样品表面的同时,能深深地穿透到样品的基质中去。然而,基质内 部产生的光电子或俄歇电子,在逸出的路径上受到非弹性碰撞的几率很大,它们的能量很 快就衰减,几乎不出现在预期的电子能谱图上。这样实际能探测的信息深度只有表面几个 至十几个原子层。由于电子能谱与表面有这样的关系,所以它们通常用来作为表面分析的 方法。或 Eb = hv − Ek −sp ' （7.1.6） 即固体样品的光电子能量公式。其中仪器功函数  sp 对每台谱仪来说通常是一个定值（一般 为几个 eV ），与样品无关，可以通过测定已知电子结合能的导电样品所得到的光电子能谱 图来确定。固定入射光束的能量 h ，用电子能谱仪测量光电子的动能 ' Ek ，就可以得到电 子在原子轨道上以费米能级为能量参考点的结合能 Eb 。 XPS 通常采用能量为 1000 ~1500eV 的 X 射线源，能激发深层芯能级的电子。因为周 期表中每一种元素的原子结构都不同于其它元素，其内层电子的结合能是特征性的，这样 就可以用 XPS 来鉴别化学元素。 UPS 通常采用 He 气放电产生的 He I(21.2eV) 或 He II(40.8eV) 共振线作激发源。 与 X 射线源相比，其能量较低，只能使原子的较高占据能级的价电子电离，所以它主要用于研 究价电子和能带结构的特征。 用 X 射线作激发光源时，样品经一次激发除得到光电子外，外层电子向内层跃迁过程 中释放的能量，又使核外另一电子激发成为自由电子，或发射特征 X 射线(见图 7.1.1)。收 集这两种信号，就分别得到 Auger 电子谱和 X 射线荧光光谱。虽然，X 射线也可以用来激 发俄歇电子，目前使用的 AES 都用电子作激发源，因为电子激发得到的俄歇电子谱强度较 大。 光子或电子在轰击样品表面的同时，能深深地穿透到样品的基质中去。然而，基质内 部产生的光电子或俄歇电子，在逸出的路径上受到非弹性碰撞的几率很大，它们的能量很 快就衰减，几乎不出现在预期的电子能谱图上。这样实际能探测的信息深度只有表面几个 至十几个原子层。由于电子能谱与表面有这样的关系，所以它们通常用来作为表面分析的 方法