单的质量分析器。采用ICP时应当考虑其气体高温(5000X)和高压(10Pa) 溶液试样经过常规或超声喷雾器雾化后可以直接导入ICP火焰,而固体试样 也可以采用火花源、激光或辉光放电等方法气化后导入。对大多数元素,用 ICPMS分析试样能够得到很低的检测限、高选择性及相当好的精度和准确度。 ICPMS谱图与常规的ICP光学光谱相比简单许多,仅由元素的同位素峰组成, 可用于试样中存在元素的定性和定量分析。定量分析一般采用标准曲线法,也可 以用同位素稀释法。 基本装置 在 ICPMS基本装置中,其关键部分是将ICP火焰中离子引出至质谱计的引 出接口。ICP炬周围为大气压力,而质谱计要求压力小于10Pa,压力相差几个 数量级。典型的离子引岀接口,让ICP炬的尾焰喷射到称为采样堆的金属镍锥形 挡板上,挡板用水冷却,中央有一个采样孔(<0.lmm),炽热的等离子体气体经 过此孔进入由机械泵维持压力为100Pa的区域。在此区域,气体因快速膨胀而冷 却,小部分的气体通过称为分离锥的金属镍锥形挡板上的微孔进入一个压力与 质量分析器相同的空腔。在空腔内,正离子在一负电压的作用下与电子和中性分 子分离并被加速,同时被—磁离子透镜聚焦到质谱计的入口微孔。经过离子透镜 系统后产生的离子束具有圆柱形截面,所含离子平均能量为0~30eV,能量分散 约为seV(半高宽度),很适合于四极质谱计进行质量分析。离开质量分析器出 口狭缝的离子,用离子检测器检测。通常采用的是配置电子倍增管的脉冲计数检 测器,以得到尽可能高的灵敏度,检测试样中所有存在元素。 在 ICPMS中是用计算机来控制质量分析器,因此,除按传统工作方式在选 定的质量区进行扫描外,还可以选用峰开关模式,对于较弱的峰或质量区间给予单的质量分析器。采用 ICP 时应当考虑其气体高温（5000K）和高压（105Pa）。 溶液试样经过常规或超声喷雾器雾化后可以直接导入 ICP 火焰，而固体试样 也可以采用火花源、激光或辉光放电等方法气化后导入。对大多数元素，用 ICPMS 分析试样能够得到很低的检测限、高选择性及相当好的精度和准确度。 ICPMS 谱图与常规的 ICP 光学光谱相比简单许多，仅由元素的同位素峰组成， 可用于试样中存在元素的定性和定量分析。定量分析一般采用标准曲线法，也可 以用同位素稀释法。 一、基本装置 在 ICPMS 基本装置中，其关键部分是将 ICP 火焰中离子引出至质谱计的引 出接口。ICP 炬周围为大气压力，而质谱计要求压力小于 10-2Pa，压力相差几个 数量级。典型的离子引出接口，让 ICP 炬的尾焰喷射到称为采样堆的金属镍锥形 挡板上，挡板用水冷却，中央有一个采样孔（<0.1mm），炽热的等离子体气体经 过此孔进入由机械泵维持压力为 100Pa 的区域。在此区域，气体因快速膨胀而冷 却，一小部分的气体通过称为分离锥的金属镍锥形挡板上的微孔进入一个压力与 质量分析器相同的空腔。在空腔内，正离子在一负电压的作用下与电子和中性分 子分离并被加速，同时被一磁离子透镜聚焦到质谱计的入口微孔。经过离子透镜 系统后产生的离子束具有圆柱形截面，所含离子平均能量为 0~30eV，能量分散 约为 5eV（半高宽度），很适合于四极质谱计进行质量分析。离开质量分析器出 口狭缝的离子，用离子检测器检测。通常采用的是配置电子倍增管的脉冲计数检 测器，以得到尽可能高的灵敏度，检测试样中所有存在元素。 在 ICPMS 中是用计算机来控制质量分析器，因此，除按传统工作方式在选 定的质量区进行扫描外，还可以选用峰开关模式，对于较弱的峰或质量区间给予