a.按ZERO键，使测角器归零 b.设置X光管的高压U=21KV,电流I=0.15mA,角步幅△B=0°，测量时间△=200s。 c.按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次0°、10°、20°、30°、40°、50°、 60°。 d.按SCAN键进行自动扫描。 e.扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。（如表1） 3.研究X射线的衰减与吸收体物质(Z为原子序数)的关系 (1)直准器前没安装锆滤片(Zr) a. 按ZERO键，使测角器归零 b. 设置X光管的高压U=30KV,电流I=0.02mA,角步幅△B=0°，测量时间△t=30s。 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次为0°、10°、20°。（每转动 约10吸收体物质发生改变)。 d 按SCAN键进行自动扫描。 e. 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。 f 设置X光管的高压U=30KV,电流I=1.00mA,角步幅△B=0°，测量时间△t=300s。 g 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次为30°、40°、50°、60°。 h. 按SCAN键进行自动扫描。 扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。（如表2） (2)直准器前安装锆滤片(Zr) a.按ZERO键，使测角器归零 b.设置X光管的高压U=30KV,电流I=O.02mA,角步幅△B=0°，测量时间△t=30s。 c.按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次为0°、10°、20°。 d.按SCAN键进行自动扫描。 e.扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。 f.设置X光管的高压U=30KV,电流I=1.00mA,角步幅△B=0°，测量时间△t=300s。 g. 按TARGET键，用ADJUST旋钮，使靶的角度依次为30°、40°、50°、60°。 h.按SCAN键进行自动扫描。 i.扫描完毕后，按REPLAY键，读取数据。（如表2） (3)测量背景影响 设置X光管的高压U=0KV,电流I=OA,角步幅角步幅△B=0°，测量时间△=300s。 数据处理和结果： 表1.研究X射线的衰减与吸收体厚度的关系 厚度d/mm R/s(无Zr) R/s (Zr) T=R/R0(无Zr) T=R/Ro(无Zr) 0 900.431 934.831 1 1 0.5 408.131 408.031 0.453262 0.436476 1.0 200.231 186.431 0.222372 0.199427 1.5 101.931 87.041 0.113202 0.093109 2.0 54.591 41.611 0.060628 0.044512 2.5 33.191 22.751 0.036861 0.024337 3.0 17.301 10.421 0.019214 0.011147a．按 ZERO 键，使测角器归零 b． 设置 X 光管的高压 U=21KV，电流 I=0.15mA，角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=200s。 c．按 TARGET 键，用 ADJUST 旋钮，使靶的角度依次 0°、10°、20°、30°、40°、50°、 60°。 d．按 SCAN 键进行自动扫描。 e．扫描完毕后，按 REPLAY 键，读取数据。（如表 1） 3．研究 X 射线的衰减与吸收体物质（Z 为原子序数）的关系 （1）直准器前没安装锆滤片（Zr） a. 按 ZERO 键，使测角器归零 b. 设置 X 光管的高压 U=30KV，电流 I=0.02mA，角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=30s。 c. 按 TARGET 键，用 ADJUST 旋钮，使靶的角度依次为 0°、10°、20°。（每转动 约 10°吸收体物质发生改变）。 d. 按 SCAN 键进行自动扫描。 e. 扫描完毕后，按 REPLAY 键，读取数据。 f. 设置 X 光管的高压 U=30KV，电流 I=1.00mA，角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=300s。 g. 按 TARGET 键，用 ADJUST 旋钮，使靶的角度依次为 30°、40°、50°、60°。 h. 按 SCAN 键进行自动扫描。 i. 扫描完毕后，按 REPLAY 键，读取数据。（如表 2） （2）直准器前安装锆滤片（Zr） a. 按 ZERO 键，使测角器归零 b. 设置 X 光管的高压 U=30KV，电流 I=0.02mA，角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=30s。 c. 按 TARGET 键，用 ADJUST 旋钮，使靶的角度依次为 0°、10°、20°。 d. 按 SCAN 键进行自动扫描。 e. 扫描完毕后，按 REPLAY 键，读取数据。 f. 设置 X 光管的高压 U=30KV，电流 I=1.00mA，角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=300s。 g. 按 TARGET 键，用 ADJUST 旋钮，使靶的角度依次为 30°、40°、50°、60°。 h. 按 SCAN 键进行自动扫描。 i. 扫描完毕后，按 REPLAY 键，读取数据。（如表 2） （3）测量背景影响 设置 X 光管的高压 U=0KV，电流 I=0mA，角步幅角步幅Δβ=0°，测量时间Δt=300s。 数据处理和结果： 表 1. 研究 X 射线的衰减与吸收体厚度的关系 厚度 d/mm R/s-1 （无 Zr） R/s-1 （Zr） T=R/R0 （无 Zr） T=R/R0 （无 Zr） 0 900.431 934.831 1 1 0.5 408.131 408.031 0.453262 0.436476 1.0 200.231 186.431 0.222372 0.199427 1.5 101.931 87.041 0.113202 0.093109 2.0 54.591 41.611 0.060628 0.044512 2.5 33.191 22.751 0.036861 0.024337 3.0 17.301 10.421 0.019214 0.011147