Qu。对于以光度测量为基础的CCD应用系统,光敏面上任何光敏单元 上的曝光量Q均应低于Q。。否则,将产生大的测量误差。所以可以通 过适当的选择CCD器件光敏上照度E和两次采样间隔时间t来达到 Q=Et。但是,采用间隔时间t一般由驱动器的转移脉冲周期T确定, 常为确定值。所以调节曝光量通常是调节CCD光敏上的光照度来实现 的。要求光敏面上任何点的照度应满足下式 E 由式(3-2),(3-3),(3-4)可得: IIL sin U mBK U- arcsin O (3.6) ITIL d 其中的为有效孔径角。 tg arcsin Q (3.8) ITTL 其中一为相对孔径 W=2 arctan H △Htan6 arctan 9 2fQsat 。对于以光度测量为基础的 CCD 应用系统，光敏面上任何光敏单元 上的曝光量 Q 均应低于 Qsat 。否则，将产生大的测量误差。所以可以通 过适当的选择 CCD 器件光敏上照度 ' E 和两次采样间隔时间 t 来达到 ' Q E t = 。但是，采用间隔时间 t 一般由驱动器的转移脉冲周期 Tsh 确定， 常为确定值。所以调节曝光量通常是调节 CCD 光敏上的光照度来实现 的。要求光敏面上任何点的照度应满足下式： ' Qsat E t  (3.5) 由式（3-2），（3-3），（3-4）可得： 2 ' max sin set v Q L U t   ' max arcsin set v Q U t L         (3.6) ' max 1 2 D tgU d = (3.7) 其中的为有效孔径角。 1 2 1 2 arcsin D set f v d Q tg f t L                   (3.8) 其中 D f 为相对孔径 max tan 2arctan 2arctan 2 2 H H W f f       = =         (3.9)