思路，理解可靠性关系概念并掌握可靠性框图分析方法。 (2)培养学生的辩证唯物主义思维，加强学生的哲学素养和科学思维。 4教学重点与难点 本章教学重点是可靠性的定义和可靠性的数学表征，教学难点是加速寿命试验。 第七章可靠性效应和物理机理（10学时) 1教学内容 (1)集成电路主要失效现象的物理过程、产生机理及解决方法。包括界面效应、热载 流子效应及NBTI效应、栅氧化层击穿、ESD效应、电迁徙效应、Latch-up效应、等离子体 损伤、天线效应等可靠性现象。 (2)功率半导体器件VDMOS、IGBT器件的失效机理。 2思政内容 (1)S-SO2界面效应研究的早期，科学家针对实验现象给出了各种不同的物理解释。 由此联想到盲人摸象的典故，从而引出整体和部分的关系，以及全面看待问题的唯物主义方 法论。 (2)从栅氧化层的经时击穿现象，引申出“从量变到质量”。 (3)在CMOS电路中，要防止寄生PNPN结构闩锁造成器件烧毁，而在ESD保护器 件中则利用PNPN结构的门锁来泄放电流，达到防护的目的。同一现象在不同场景下有不 同的作用，由此引出“具体问题具体分析”。 3教学要求 (1)使学生掌握集成电路和功率器件的主要失效机理，并能灵活运用这些机理解释失 效现象。 (2)培养学生的辩证唯物主义思维，加强学生的哲学素养和科学思维。 4教学重点与难点 教学重点和难点是各种失效现象的物理机理。 第八章可靠性试验和失效分析方法(6学时) 1教学内容 (1)可靠性试验的目的、和方法。 (2)失效分析的概念、重要性以及分析方法。 2思政内容 (1)针对不同的应用，要采用不同的可靠性试验方法，从而引申出“具体问题具体分 析”的辩证唯物主义方法论。思路，理解可靠性关系概念并掌握可靠性框图分析方法。 （2）培养学生的辩证唯物主义思维，加强学生的哲学素养和科学思维。 4 教学重点与难点 本章教学重点是可靠性的定义和可靠性的数学表征，教学难点是加速寿命试验。 第七章 可靠性效应和物理机理（10 学时） 1 教学内容 （1）集成电路主要失效现象的物理过程、产生机理及解决方法。包括界面效应、热载 流子效应及 NBTI 效应、栅氧化层击穿、ESD 效应、电迁徙效应、Latch-up 效应、等离子体 损伤、天线效应等可靠性现象。 （2）功率半导体器件 VDMOS、IGBT 器件的失效机理。 2 思政内容 （1）Si-SiO2 界面效应研究的早期，科学家针对实验现象给出了各种不同的物理解释。 由此联想到盲人摸象的典故，从而引出整体和部分的关系，以及全面看待问题的唯物主义方 法论。 （2）从栅氧化层的经时击穿现象，引申出“从量变到质量”。 （3）在 CMOS 电路中，要防止寄生 PNPN 结构闩锁造成器件烧毁，而在 ESD 保护器 件中则利用 PNPN 结构的闩锁来泄放电流，达到防护的目的。同一现象在不同场景下有不 同的作用，由此引出“具体问题具体分析”。 3 教学要求 （1）使学生掌握集成电路和功率器件的主要失效机理，并能灵活运用这些机理解释失 效现象。 （2）培养学生的辩证唯物主义思维，加强学生的哲学素养和科学思维。 4 教学重点与难点 教学重点和难点是各种失效现象的物理机理。 第八章 可靠性试验和失效分析方法（6 学时） 1 教学内容 （1）可靠性试验的目的、和方法。 （2）失效分析的概念、重要性以及分析方法。 2 思政内容 （1）针对不同的应用，要采用不同的可靠性试验方法，从而引申出“具体问题具体分 析”的辩证唯物主义方法论