教材和参考资料 冬教材 -雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社2008.5 -在线教材网址： >https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571 ?参考资料 -VLSI Test Principles and Architectures),L.T.Wang,C.W. Wu,and X.Wen,Morgan Kaufmann,2006. Digital Systems Testing and Testable Design>, M.Abramovici,M.A.Breuer,A.D.Friedman,Computer Science Press,1995 Testing of Digital Systems),Niraj,Sandeep Gupta, Cambridge University Press,2003 。软件 VCS,DFT Compiler,TetraMax 2020/9/4 集成电路可测性设计 22020/9/4 集成电路可测性设计 2 教材和参考资料  教材  雷绍充，邵志标，梁峰，《超大规模集成电路测试》，电子工业出 版社 2008.5  在线教材网址： https://www.keledge.com/wrap/details/book?id=193571  参考资料  《VLSI Test Principles and Architectures》, L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, Morgan Kaufmann, 2006.  《Digital Systems Testing and Testable Design》， M.Abramovici, M.A.Breuer, A.D.Friedman，Computer Science Press，1995  《Testing of Digital Systems》，Niraj，Sandeep Gupta， Cambridge University Press，2003  软件  VCS，DFT Compiler，TetraMax