Vol.15 No.5 赵沛等：用第二相粒子细化HSLA钢品粒 ·477· 0.1um 34m 图1透射电镜下观察到的细小SiO, 图2扫描电流下观察到的SiO2 Fig.1 Fine silica particles (by TEM) Fig.2 Spherical siliea particles (by SEM) 500 400 300 200- 100 0.10.50.61.01.11.51.6-2.021-2.52.6-303.1-3.5 粒子尺寸/4m 图3试样7中第二相粒子的分布频数 Fig.3 Distribution frequency of particles in Sample 7 (2)[S含量低，[A含量偏高。根据显微分析，SO,粒子在残铝低的钢样中较多， 而在残铝偏高的钢样中较少。在浅铝高的钢中，A,O,颗粒优先光生成 通过对A1O,SiO系的热力学计算，在1873K温度和0.006%残铝条件下，硅 的平衡含量约为0.18%，适合增加硅含量，有利于生成SiO和抑制Al,O,的生成。但 是，根据wagner公式(10)，硅含量过高会引起SiO的粗化。V o l . 1 5 N o . 5 赵 沛等 二 用第二相粒子细化 H S L A 钢晶粒 · 4 7 7 · 图 1 透射电镜 下观察到的细 小 51 0 2 F ig . 1 F in o s i li e a p a r ti e l e s ( b y T E M ) 图 2 扫描 电流下观察到 的 51 0 2 F ig . 2 S p h e r i e a l s i li e a p a r t i e l e s ( b , , S E M ) 5 0 0 4 0 0 鬓 3 0 0 2 0 0 1 0 0 0注 ~ 0 . 5 0 . 6 ~ 图 3 1 . 0 1 . 1 ~ 1 . 5 1 . 6 一 2 . 0 2 . 1 ~ 2 .5 2 . 6 ~ 3 . 0 3 . 1 一 3 . 5 粒子尺 寸 / 料m 试样 7 中第二相粒 子的分布频 数 F i g . 3 D i s t r i b u t i o n fr e q u e n e y o f p a r t i e l e s i n S a m Pl e 7 (2 ) 【iS] 含 量 低 , A[ 1] 含量 偏 高 。 根 据 显 微 分 析 , 51 0 : 粒 子在 残 铝 低 的钢 样 中较 多 , 而在 残铝 偏高 的钢 样 中较 少 在 残铝高 的 钢 中 , IA Z O : 颗 粒优 先生 成 。 通 过 对 A l 一 ~ - O , iS 一0 系 的热 力学 计算 , 在 1 8 73 K 温 度 和 0 . 0 06 % 残 铝条 件下 , 硅 的 平衡 含量 约 为 0 . 18 % , 适 合 增 加 硅 含 量 , 有 利 j 二 生 成 51 0 : 和 抑 制 1A 2O : 的生 成 。 但 是 , 根 据 w ag n er 公 式 ( 10) , 硅 含量 过高 会引 起 51 0 : 的粗化