实验一基本门电路逻辑功能测试 一、实验目的 1,学会使用数字电路实验装置 2.掌握组合逻辑电路的分析与设计方法： 3.能够根据所学知识解决实际问题。 二、实验器材及仪器 L数字罗辑实验台 2.集成块74LS00、74S32、74LS86各一片 3.导线若干 三、实验原理 1.试验台介绍 2.74系列芯片的管脚读法 ©1 O-P-0-00-O-U 图1-174系列芯片的管脚编号方法图 74系列门电路芯片外形如图1-1所 管脚编号方法：管脚向下半月形缺口向左，从 下排自左向右顺序编号， 上排自右向左颗序编号 3.逻辑电路的分类 按集成度分： 小规模(SSI):每片1一10个器件， 中规模(SI):每片10一100个署件 大规模(LSI):每片数千个器件 超大规模(LSI):每片>10000器件 按电路结构和工作原理分： 组合逻辑电路：无记忆，输出与以前状态无关 时序罗辑电路：有记忆，偷出与以前状态有关 4.组合逻辑电路 创合电