1、检验步骤： (1)假设：H0:差值总体中位数M。=0 H:Ma 0 (2)求差值： (3)编秩 (4)求秩和并确定检验统计量：分别求正负秩次 之和，正秩次的和以T表示，负秩次的和以T表示 本例T+为48.5，T为6.5，以绝对值较小秩和作检 验统计量，本例取T=6.5.当小于等于50时，查T 界值表.注意： 当<5时，应用秩和检验不能得出双侧有统计 学意义的概率故n必须大于或等于51、检验步骤： （1）假设：H0：差值总体中位数Md=0 H1 : Md 0 （2）求差值： （3）编秩： （4）求秩和并确定检验统计量：分别求正负秩次 之和,正秩次的和以T+表示,负秩次的和以T-表示. 本例T+为48.5,T-为6.5,以绝对值较小秩和作检 验统计量,本例取T=6.5.当n小于等于50时,查T 界值表.注意： • 当n<5时，应用秩和检验不能得出双侧有统计 学意义的概率故n必须大于或等于5