Manual for Admittance Spectroscopy Measurement System by ZhU Hai 测量系统概述 本实验目的为测量半导体低维量子结构的电导随温度变化,以推 算出样品的激活能。通过一系列测量可以分析出样品结构或者杂质缺 陷产生的深能级 本实验基于特别设计定制的样品架装置,利用液氮低温源使样品 温度能在一定范围内缓慢变化,利用安装了基于GPIB ( Genera| Purpose Interface Bus,通用接口总线,即IEE488标准总 线)的控制器卡和相应控制程序的计算机同时记录下热电偶系统测量 到的温度(电压信号)和LCR表测量到的电导值就可以得到导纳谱。 导纳谱谱图可以在测量时通过控制程序的一个窗口看到,也可以 dat”的数据文件( ASCll码)形式保存。此数据文件可以直接被 Origin或者Exce程序导入,采用单频或者多频测量分析方法拟合得 到样品激活能的值。Manual for Admittance Spectroscopy Measurement System by ZHU Hai 1. 测量系统概述 本实验目的为测量半导体低维量子结构的电导随温度变化，以推 算出样品的激活能。通过一系列测量可以分析出样品结构或者杂质缺 陷产生的深能级。 本实验基于特别设计定制的样品架装置，利用液氮低温源使样品 温 度 能 在 一 定 范 围 内缓慢 变 化 ， 利 用 安 装 了 基 于 GPIB （General-Purpose Interface Bus，通用接口总线，即 IEEE 488 标准总 线）的控制器卡和相应控制程序的计算机同时记录下热电偶系统测量 到的温度（电压信号）和 LCR 表测量到的电导值就可以得到导纳谱。 导纳谱谱图可以在测量时通过控制程序的一个窗口看到，也可以 “.dat”的数据文件（ASCII 码）形式保存。此数据文件可以直接被 Origin 或者 Excel 程序导入，采用单频或者多频测量分析方法拟合得 到样品激活能的值