4.1分析电子显微镜特点 高分辨电子显微术(HREM或HRTEM)是一种基于相位衬度原理的成 像技术。入射电子束穿过很薄的晶体试样，被散射的电子在物镜的背焦 面处形成携带晶体结构的衍射花样，随后衍射花样中的透射束和衍射束 的干涉在物镜的像平面处重建晶体点阵的像。这样两个过程对应着数学 上的傅里叶变换和逆变换。4.1分析电子显微镜特点 高分辨电子显微术(HREM 或HRTEM)是一种基于相位衬度原理的成 像技术。入射电子束穿过很薄的晶体试样，被散射的电子在物镜的背焦 面处形成携带晶体结构的衍射花样，随后衍射花样中的透射束和衍射束 的干涉在物镜的像平面处重建晶体点阵的像。这样两个过程对应着数学 上的傅里叶变换和逆变换