于A1合金的值，即L值应更大。这种矛盾应对具体体系做具体分析，不应一概而论。 24.0mV, 5-530mv -570mV (b)Tap water sean 120mv -610mv y -640mL -750mV (c)3%NaCI sean -730mvl 图4电位扫描图 图5电位分布图 Fig.4 Potential scan using a calomel/ 扫描面积10mm×10mm,18-8SS,10%FeC1,〔5) Agar KC1 micro-elcetrode Fig.5 Potential distribution of a 18-8 across an A1-Cu couplet6] stainless steel in FcCl, electrolyte[5】 (4)一般认为，微电极细些有利于提高测量微区信号的灵做度和分辨度。Roger等人的 工作表明〔3J,作为扫描微电极，用直径0.25mm与直径0.038mm的电极得到的等高线图基 本相同，细电极只使图形有很小的改进。因而用较粗的微电极不仅方便宜行，也有利于减少 50Hz电源的千扰。 (5)电极与样品表面的距离一直是腐蚀测量的问题之一。许多工作表明，微电极距样品 表面过近会引起屏蔽效应()，距离至少应在一个直径以上【10)。屏蔽效应只是对极化电流 而言，在电极不加极化的情况下，屏蔽现象会变得不重要了。Roger等的工作表明，用 0.25mm直径的微电极在离样品距离仅0.038mm(1/6直径的距离)处仍可得到满意的电势 分布图，并就此推论Ag/AgC1电极对电势场的千扰很小【3)。 5结 论 (1)集束微电极的制备应考虑实际可行性。电极密度越高，则图形的分辨率也越高，但 制作也愈加困难。考虑到我国现有的工艺水平与绝缘层加工技术，4根/m2左右比较合 适。 (2)理论与实验表明，弃掉充浓KC1的微玻管，用裸露的Ag/AgCI线做为微电极直接 进行测量是可行的。但在实际被测体系中，C1离子浓度一般不应低于5mmol1。 (3)用集束微电极测量时，由于测量方法而可能出现的缝隙腐蚀可以忽略不计。 参考文献 1 Nastuk W L.Fedn Proc Fedn Am Socs Exp Biol,1953b;12:102 175于 合金 的值 ， 即 值应 更大 。 这种矛盾应对 具体体系做 具体分析 ， 不应 一概而论 。 。 叨 、 “ “ 叭 沪 户矛叭 仲 俪丁耐而…… 图 电位 扫 宝 笙 誉 图 三 一 ， 一 。 〕 图 电位分 布图 扫描面积 ， 一 ， 。 〕 了 弓 呈 一 玉 〕 一般认 为 ， 微电极细些 有利于提高测量微 区信号的灵 敏度和分辨度 。 等人的 工作表 明 〔 “ 〕 ， 作为 扫描微电极 ， 用直径 与直径 的电极得到 的等高线 图基 本相 同 ， 细电极只使图形有很小 的改进 。 因而用较粗的微 电极不仅方便宜 行 ， 也 有利于减少 电源 的千扰 。 电极与样品表 面的距 离一直是 腐蚀测量的问题 之一 。 许多工作表 明 ， 微电极距样品 表 面过近会引起屏 蔽效 应 〔 口 〕 ， 距 离至 少应在一个直径以 上 〔 ’ ” 〕 。 屏 蔽效应 只是对极化 电 流 而言 ， 在 电极不加极化 的情况 下 ， 屏蔽现象 会变得 不 重 要 了 。 等 的 工 作 表 明 ， 用 直径 的微 电极在离样 品距 离仅 直径 的距 离 处 仍可得到满意的电 势 分布图 ， 并就此推论 电极对 电势场 的干扰很 小 〔 “ ，。 结 论 集束微电极的制备应考虑实际可行性 。 电极密度越 高 ， 则图形 的 分辨率 也越 高 ， 但 制作也愈加困难 。 考虑到 我 国现 有的工艺水平 与 绝 缘层加工 技 术 ， 根 ’ 左 右 比 较 合 适 。 理论与实验表 明 ， 弃掉充浓 的微玻管 ， 用裸露 的 线做 为微电极直接 进行测量是可行的 。 但在实际被测体系 中 ， 一 离子浓 度一般 不应 低于 。 用集束微电极测量时 ， 由于测 量方法而可能 出现 的缝 隙腐蚀可以 忽略不 计 。 参 考 文 献 ， 月 川 戈