主要缺点是测试周期较长(指稳态卡计 法),样品的制备和安装比较复杂。 图(3-2)是一种稳态卡计法测量表面半 球向全发射率的装置主要缺点是测试周期较长(指稳态卡计 法)，样品的制备和安装比较复杂。 图(3-2)是一种稳态卡计法测量表面半 球向全发射率的装置