第三章 辐射换热的实验研究和 工程应用
第三章 辐射换热的实验研究和 工程应用
§3.1物体表面8(发射率)的测量
§ 3.1 物体表面 ε (发射率)的测量
于8 图(3-1)卡计法示意图
图(3-1) 卡计法示意图
根据包围物体净辐射换热的公式 A71-2) 1⊥业
因为4很小所以-1)可以略去 则1]式为 式中Q-T,T2,A1已知,物体的辐射率1即可求得
§3.2用卡计法测量固体表面 的热辐射性质 测量的方法有: 卡计法,反射法和辐射计法三大类
§ 3.2 用卡计法测量固体表面 的热辐射性质 测量的方法有： 卡计法，反射法和辐射计法三大类
现介绍卡计法 用卡计法测量发射率是将样品置于真 空中加热,而根据样品的热平衡方程 求得样品的半球全发射率 卡计法的主要优点是测试准确度高, 装置较简单,操作方便,测试的温度 范围广(可以从致冷温度到200c以 上的高温)
现介绍卡计法： 用卡计法测量发射率是将样品置于真 空中加热，而根据样品的热平衡方程 求得样品的半球全发射率。 卡计法的主要优点是测试准确度高， 装置较简单，操作方便，测试的温度 范围广(可以从致冷温度到 2000 C 以 上的高温)
主要缺点是测试周期较长(指稳态卡计 法),样品的制备和安装比较复杂。 图(3-2)是一种稳态卡计法测量表面半 球向全发射率的装置
主要缺点是测试周期较长(指稳态卡计 法)，样品的制备和安装比较复杂。 图(3-2)是一种稳态卡计法测量表面半 球向全发射率的装置
就冷却壁 真 金器 空 斜懷加煞器 图(3-2)测量半球向全发射率的 稳态卡计法装置示意图
图(3-2) 测量半球向全发射率的 稳态卡计法装置示意图
被测样品用主加热器通电加热,并用一补 偿加热器对主加热器的侧部和底部加热, 通过温度控制使主加热器的加热电功率全 部加在样品上 样品及加热装置置于能抽至10^{-4}托或 更高真空度的真空室内,室壁涂黑,并通 液氮进行冷却 这样,样品与空气之间的对流、导热损失 以及室壁对样品的辐射均可忽略不计
被测样品用主加热器通电加热，并用一补 偿加热器对主加热器的侧部和底部加热， 通过温度控制使主加热器的加热电功率全 部加在样品上。 样品及加热装置置于能抽至10^{-4} 托或 更高真空度的真空室内，室壁涂黑，并通 液氮进行冷却。 这样，样品与空气之间的对流、导热损失 以及室壁对样品的辐射均可忽略不计