薄样品的必要性 透射电子显微镜利用穿透样品的电子 束成像，这就要求被观察的样品对入射电 子束是“透明的”。电于束穿透固体样品 C 的能力，主要取决于加速电压和样品物质 C 原子序数。加速电压越高，样品原子序数 Au 越低，电子束可以穿透样品厚度就越大。 对于透射电子显微镜常用的加速电压100 10 100 1000 kV,如果样品是金属，其平均原子序数在 U/kV C的原子序数附近，因此适宜的样品厚度 可穿透厚度与 加速电压U的关系 约200nm。 2透射电子显微镜利用穿透样品的电子 束成像，这就要求被观察的样品对入射电 子束是“透明的”。电于束穿透固体样品 的能力，主要取决于加速电压和样品物质 原子序数。加速电压越高，样品原子序数 越低，电子束可以穿透样品厚度就越大。 对于透射电子显微镜常用的加速电压100 kV，如果样品是金属，其平均原子序数在 Cr的原子序数附近，因此适宜的样品厚度 约200 nm。 可穿透厚度t与 加速电压U的关系 薄样品的必要性 2