四XPS的仪器Instrumentation for XPS ,得到 2券能量分析器·对应上述能量的分析器，只可能是表面 凭于传 3高亮亲系统光蝇喜喜孩务P9mc中amte, 婆壳量。峰位置的偏移代表价老与环境的 XPs的仪器Instrumentation for XPS XPS的仪器Instrumentation for XPS ined from a Pd metal 20cV.将KE转换为BE 1.价带(4d,5s)出现在0-8eV. 34 54,88ev. 谱学功函数极小，可略去， 得到 KE = hv - BE ： 3 元素不同，其特征的电子键能不同。测量电子动能KE ， 就得到对应每种元素的一系列BE-光电子能谱，就得到电 子键能数据。 4 谱峰强度代表含量，谱峰位置的偏移代表价态与环境的 变化-化学位移。 1激发光源——X射线（软X射线；Mg Kα : hv = 1253.6 eV； Al Kα : hv = 1486.6 eV）或UV； 2电子能量分析器-对应上述能量的分析器，只可能是表面 分析； 3高真空系统：超高真空腔室super-high vacuum chamber （ UHV避免光电子与气体分子碰撞的干扰。 四 XPS的仪器Instrumentation for XPS XPS的仪器Instrumentation for XPS XPS的仪器Instrumentation for XPS XPS XPS spectrum obtained from a Pd metal sample using Mg Ka radiation) ; 330, 690, 720, 910 and 920 eV KE BE - 1. 价带 (4d,5s) 出现在 0 - 8 eV 。 2 4p 、 4s 能级出现在 54 、88 eV 。 3. 335 eV 的最强峰由 3d 能级引起。 4 3p 和3s 能级出现在 534/561 eV 和 673 eV 。 5. 其余峰非 XPS 峰， 而是Auger 电子峰