单从上式来看,似乎只要有很高的反射率R~1,就可有极高的分辨本领和精细 度但是,反射率的上限受制于F-P标准具的工作区的平整度A/M,即F-P标 准具的间隔值t是有起伏的,可以有A/M的变化,这相应于光程差有4x/M的起 伏.由(5-13)式得 这就是说,反射率越高,要求的平整度也越高,两者应相互匹配 问题 如果要求用间隔为1mm的F-P干涉仪能分辨Hg546.1mm绿谱线处的 两根波数差为0.1nm的谱线,试求所需的反射率和平整度 3.实验装置 我们所用的装置如图5-5所示,光源(低压汞灯)发射的光线经透镜4及干 涉滤色片6后,以近似平行光的方式照射到F-P标准具,输出光经透镜8会聚, 再经反射镜9转向,即可在读数显微镜10中观察到干涉条纹.偏振片则用于选 取不同偏振态的谱线 目 图5-5塞曼效应的实验装置图 直流稳压电源:2—电磁铁;3—光源:4—聚光透镜;5—偏振片; 6—干涉滤光片;7—F-P标准具;8—成像透镜:9平面反射镜 10—读数显微镜:11—小孔光阑;12—光电接收器 在图5-6中,光源经透镜L1集光再照射到F一P标准具,以使标准具能得 到均匀的照明,设入射光线中的波长为A的光线在空气层中的折射角为0,则相 邻透射光束的光程差△为 △=2 ncos 6=m (5-18) 135