态为基态,基态原子数目受常用温度的影响较小,所以,N近似等于总原子数。因 此,在原子吸收光谱分析法中,干扰一般较少。但在实际工作中,一些干扰还是不容 忽视的。所以,必须了解产生干扰的可能的原因,以便采取措施使干扰对测定的影响 最小。 总的来说,原子吸收光谱法中的干扰主要有光谱干扰、物理干扰和化学干扰等 大类型。 8-51光谱干扰及其消除 光谱干扰主要产生于光源和原子化器。 1.光源产生的干扰 (1)与分析线相邻的其它谱线的存在所引起的干扰 ①共存谱线为待测元素线。这种情况多发生在多谱线元素的测定中。如:在镍 空心阴极灯的发射线中,分析线2320A附近还有许多条发射谱线(如2316A),而这些 谱线又不被镍元素所吸收,这样测定的灵敏度就会下降,自然会导致工作曲线的弯曲 不过,这样的干扰可借助于调节狭缝的宽度的办法来控制。 ②共存谱线为非待测元素的谱线。若此谱线为该元素的非吸收线,则会使测定 的灵敏度下降:但若为该元素的吸收线,则当试液中含有该元素时,就会使试液产生 假吸收”,使待测元素的吸光度增加,产生正误。当然,这种误差的产生主要是空心 阴极灯的阴极材料不纯引起的,且常见于多元素灯。避免这种干扰的方法是选用合适 的单元素灯 (2)谱线重叠的干扰 般谱线重叠的可能性较小,但并不能完全排除这种干扰存在的可能性。这是由 于共存元素的共振线与待测元素的共振线重叠而引起的。例如:被测元素铁的共振线 为2719.025A,而共存元素Pt的共振线为2719.038A:又如被测Si的共振线为 2506899A,共存元素Ⅴ的共振线为2506905A等。在一定的条件下,就会发生干扰 遇到这种情况,可选择灵敏度较低的的谱线进行测量,以避免干扰。 2与原子化器有关的干扰 这类干扰主要是由于背景吸收所造成。 背景吸收的干扰系由气体分子对光的吸收和高浓度盐的固体微粒对光的散射所 引起的。 (1)火焰成分对光的吸收。 波长越短,火焰成分中的OH、CH及CO等基团或分子对辐射的吸收就越严重 通常可通过调节零点或改换火焰组成等办法来消除。 (2)固体对光的散射 在进行低含量或痕量分析时,大量的盐类物质进行原子化器,这些盐类的细波微 粒处于光路中,会使共振线发生散射而产生“假吸收”,从而引入误差。 所以,背景吸收(分子吸收)主要是由于在火焰或无火焰原子化器中形成分子或较7 态为基态，基态原子数目受常用温度的影响较小，所以，N0 近似等于总原子数。因 此，在原子吸收光谱分析法中，干扰一般较少。但在实际工作中，一些干扰还是不容 忽视的。所以，必须了解产生干扰的可能的原因，以便采取措施使干扰对测定的影响 最小。 总的来说，原子吸收光谱法中的干扰主要有光谱干扰、物理干扰和化学干扰等三 大类型。 8-5.1 光谱干扰及其消除 光谱干扰主要产生于光源和原子化器。 ⒈光源产生的干扰 ⑴与分析线相邻的其它谱线的存在所引起的干扰 ① 共存谱线为待测元素线。这种情况多发生在多谱线元素的测定中。如：在镍 空心阴极灯的发射线中，分析线 2320Å 附近还有许多条发射谱线(如 2316Å)，而这些 谱线又不被镍元素所吸收，这样测定的灵敏度就会下降，自然会导致工作曲线的弯曲。 不过，这样的干扰可借助于调节狭缝的宽度的办法来控制。 ② 共存谱线为非待测元素的谱线。若此谱线为该元素的非吸收线，则会使测定 的灵敏度下降；但若为该元素的吸收线，则当试液中含有该元素时，就会使试液产生 “假吸收”，使待测元素的吸光度增加，产生正误。当然，这种误差的产生主要是空心 阴极灯的阴极材料不纯引起的，且常见于多元素灯。避免这种干扰的方法是选用合适 的单元素灯。 ⑵ 谱线重叠的干扰 一般谱线重叠的可能性较小，但并不能完全排除这种干扰存在的可能性。这是由 于共存元素的共振线与待测元素的共振线重叠而引起的。例如：被测元素铁的共振线 为 2719.025Å，而共存元素 Pt 的共振线为 2719.038Å；又如被测 Si 的共振线为 2506.899Å,共存元素 V 的共振线为 2506.905Å 等。在一定的条件下，就会发生干扰。 遇到这种情况，可选择灵敏度较低的的谱线进行测量，以避免干扰。 ⒉与原子化器有关的干扰 这类干扰主要是由于背景吸收所造成。 背景吸收的干扰系由气体分子对光的吸收和高浓度盐的固体微粒对光的散射所 引起的。 ⑴ 火焰成分对光的吸收。 波长越短，火焰成分中的 OH、CH 及 CO 等基团或分子对辐射的吸收就越严重。 通常可通过调节零点或改换火焰组成等办法来消除。 ⑵ 固体对光的散射 在进行低含量或痕量分析时，大量的盐类物质进行原子化器，这些盐类的细波微 粒处于光路中，会使共振线发生散射而产生“假吸收”，从而引入误差。 所以，背景吸收(分子吸收)主要是由于在火焰或无火焰原子化器中形成分子或较