扫描模式 恒电流模式:适用于观察表面形貌起伏 较大的样品 恒高度模式:扫描速度快,减少噪音等, 不能用于观察表面起伏大于1nm的样品 反回路 (a)恒电流模式v2(,")→x(x.y) (恒高度模式",)→x(x,y 图2扫描道显微镜的两种工作模式扫描模式 • 恒电流模式：适用于观察表面形貌起伏 较大的样品。 • 恒高度模式：扫描速度快，减少噪音等， 不能用于观察表面起伏大于1nm 的样品