2、理解：集成电路测试技术在整个集成电路产业链中的地位和作用。 3、了解：集成电路测试技术发展的趋势。 (二)教学及考核内容 1.1测试哲学 1.2测试的作用 1.3数字和模拟LSI测试 1.4VLSI技术的发展趋势对测试的影响 第二章集成电路测试过程和测试设备 (一)基本要求 1、学握：集成电路测试过程。 2、理解：基本的测试原理。 3、了解：常见的测试设备。 (二)教学及考核内容 2.1如何测试芯片 2.2常用的自动测试设备及测试原理 2.3电学参数测试 第三章数字集成电路中常见的故障 (一)基本要求 1、掌握：常用的故障模型如单固定故障模型 2、理解：故障的支配性原理和等价性原理。 3、了解：故障模型和故障模型术语。 (二)教学及考核内容 3.1缺陷、错误和故障 3.2功能测试与结构测试 3.3故障模型的级别 3.4故障模型中的常见术语 3.5单固定故障 第四章组合电路的测试生成 (一)基本要求 1、掌握：一维敏感路径、D算法等测试向量生成算法。 2、理解：故障诊断的基本原理、方法。 3、了解：非冗余电路的概念 (二)教学及考核内容 2 2 2、 理解：集成电路测试技术在整个集成电路产业链中的地位和作用。 3、 了解：集成电路测试技术发展的趋势。 （二）教学及考核内容 1.1 测试哲学 1.2 测试的作用 1.3 数字和模拟 VLSI 测试 1.4 VLSI 技术的发展趋势对测试的影响 第二章 集成电路测试过程和测试设备 （一）基本要求 1、掌握：集成电路测试过程。 2、 理解：基本的测试原理。 3、了解：常见的测试设备。 （二）教学及考核内容 2.1 如何测试芯片 2.2 常用的自动测试设备及测试原理 2.3 电学参数测试 第三章 数字集成电路中常见的故障 （一） 基本要求 1、 掌握：常用的故障模型如单固定故障模型。 2、理解：故障的支配性原理和等价性原理。 3、了解：故障模型和故障模型术语。 （二）教学及考核内容 3.1 缺陷、错误和故障 3.2 功能测试与结构测试 3.3 故障模型的级别 3.4 故障模型中的常见术语 3.5 单固定故障 第四章 组合电路的测试生成 （一）基本要求 1、 掌握：一维敏感路径、D 算法等测试向量生成算法。 2、理解：故障诊断的基本原理、方法。 3、了解：非冗余电路的概念。 （二）教学及考核内容