IEEE P1500测试标准的解决办法 IEEE P1500工作组提出的结构化的测试标准解决了： 如何通过SoC上的边界扫描机制访问嵌入式核上的边界扫描单 元 如何对每个单独的核进行测试； ● 如何进行核间连接的测试； ● 如何测试S0C上的其他模块，如存储器、用户定义逻辑模块 (UDL一user defined logic),以及模拟模块等； ● 如何在核的不同的模式（正常、核测试，其他模块测试、连接 测试和隔离等)之间进行切换。 主要内容包括：1)可变规模的可测性标准硬件结构： 2)测试描述语言CTL(Core Test Language)。IEEE P1500 测试标准的解决办法 IEEE P1500工作组提出的结构化的测试标准解决了：  如何通过SoC上的边界扫描机制访问嵌入式核上的边界扫描单 元;  如何对每个单独的核进行测试;  如何进行核间连接的测试;  如何测试SoC上的其他模块,如存储器、用户定义逻辑模块 (UDL——user defined logic )，以及模拟模块等；  如何在核的不同的模式（正常、核测试，其他模块测试、连接 测试和隔离等）之间进行切换。 主要内容包括：1）可变规模的可测性标准硬件结构； 2）测试描述语言CTL(Core Test Language)