品厚度50μm~5mm;材料形态包括固体、薄膜、粉未、液体等. 项目完成时通过可靠性测试和第三方异地测试，平均故障问隔时 间>3000小时，技术就绪度不低于8级；至少应用于2个领域或 行业，明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量，具有 自主知识产权；形成批量生产能力，经用户试用，满足用户使用 要求 1.20高性能物联网综合测试仪 研究内容：针对物联网商用终端、模组和芯片等研发检测， 以及5G、WIFI、蓝牙、NB-IOT、IoTG、ETC、CV2X等协议 标准测试需求，突破DSS、MU-MMO、1024-QAM和增强V2X 等关键技术，开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件 国产化的高性能物联网综合测试仪，开发相关软件和数据库，开 展工程化开发、应用示范和产业化推广，实现在物联网终端、模 组、芯片、无线局城网和工业互联网等领城的应用。 考核指标：频率范围70MHz~18GHz;输出功率-110~-0dBm; 接收信号电平-80-+30dBm;调制与分析带宽1200MHz;波形方 式CP-OFDM、DFTS-OFDM;调制方式SSB、BPSK、QPSK. 16QAM.64QAM.256QAM.1024QAM.CCK.GFSK.OFDM. DSSS、FHSS;多址方式OFDMA、SC-FMDA;EVM-4OdB: 支持AWGN模拟、多径信号模拟、接收机灵敏度测试、支持8 天线单流和多流信号模拟与分析等功能。项目完成时通过可靠性 测试和第三方异地测试，平均故障间隔时间>3000小时，技术就 -531 首都医科大学 A00089 — 531 — 品厚度 50μm~5mm；材料形态包括固体、薄膜、粉末、液体等。 项目完成时通过可靠性测试和第三方异地测试，平均故障间隔时 间≥3000 小时，技术就绪度不低于 8 级；至少应用于 2 个领域或 行业。明确发明专利、标准和软件著作权等知识产权数量，具有 自主知识产权；形成批量生产能力，经用户试用，满足用户使用 要求。1.20 高性能物联网综合测试仪 研究内容：针对物联网商用终端、模组和芯片等研发检测， 以及 5G、WIFI、蓝牙、NB-IOT、IoT-G、ETC、C-V2X 等协议 标准测试需求，突破 DSS、MU-MIMO、1024-QAM 和增强 V2X 等关键技术，开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件 国产化的高性能物联网综合测试仪，开发相关软件和数据库，开 展工程化开发、应用示范和产业化推广，实现在物联网终端、模 组、芯片、无线局域网和工业互联网等领域的应用。 考核指标：频率范围 70MHz~18GHz；输出功率-110~0dBm； 接收信号电平-80~+30dBm；调制与分析带宽 1200MHz；波形方 式 CP-OFDM、DFT-S-OFDM；调制方式 SSB、BPSK、QPSK、 16QAM、64QAM、256QAM、1024QAM、CCK、GFSK、OFDM、 DSSS、FHSS；多址方式 OFDMA、SC-FMDA；EVM≤-40dB； 支持 AWGN 模拟、多径信号模拟、接收机灵敏度测试、支持 8 天线单流和多流信号模拟与分析等功能。项目完成时通过可靠性 测试和第三方异地测试，平均故障间隔时间≥3000 小时，技术就