平晶平!2 标 待 △h 石英环 2.测量长度的微小改变 待测样品 规 规 干涉膨胀仪 等厚条纹的应用 θ不变,只增减薄膜厚度,则等厚干涉条纹并不改变其条纹 间距,而只发生条纹移动,厚度增加,条纹向棱的方向移动, 即厚度每增加λ2时,条纹向下移动一级,数出条纹移动的数 目,即可测知厚度改变多少。(测量精度达/10以上)。干涉膨 胀仪就是根据这种原理形成的,用它可以测量很小的固体样品的 热膨胀系数。 k+1 移动后条纹位置 薄膜上表面 k 面上移 移动前条纹位置 k 干涉条纹的移动不变，只增减薄膜厚度，则等厚干涉条纹并不改变其条纹 间距，而只发生条纹移动，厚度增加，条纹向棱的方向移动， 即厚度每增加 时，条纹向下移动一级，数出条纹移动的数 目，即可测知厚度改变多少。(测量精度达 以上)。干涉膨 胀仪就是根据这种原理形成的，用它可以测量很小的固体样品的 热膨胀系数。   / 2  /10 2． 测量长度的微小改变 · · · · 薄膜上表面 面上移 移动后条纹位置 移动前条纹位置 k k-1 k k+1 干涉条纹的移动 Δh 待 测 块 规  标 准 块 规 平晶 待 测 样 品 石 英 环  平晶 干涉膨胀仪 等厚条纹的应用