7001 700℃1Hz Smax=735 MPa 35 Sp=-196 MPa 600 8:88% 135 500 235 400 0.1z B35月 300 435 200 535 100 635 0 02 103 104 105 10735 Cycles to failure,Nf (e) 图4Mg对疲劳蠕变交互作面性能的影响(700) Fig.4 Influence of Mg on the fat'gue-creep interact.on(700C)curves,(a)Without Sp, (b)Sp=-392Mpa,(c)Sp=-196MPa 值。Mg的偏析层很薄，在入射电子束作用下有辉光现象，导致下次重复扫射时Mg峰的减 弱，本实验以第三次扫描结果为输出值。 (2)在蠕变应力作用下，晶界偏析首先降低（或转移），随后又在蠕变孔祠表面偏聚， 而在低温打断的晶界面上未察觉有Mg的偏聚，Mg偏析的不均匀性增加了。随蠕变继续进 行，蠕变孔洞表面的Mg偏析量不断增高（图5a)。 0.1o )1n多9 Mg S 700℃ 700℃ 539HPg(R=1 539MPa(a1) 0.08 0.08叶 L)汉 0.06 0.06 OT18I 2 0.04 0.04 S0021方10+5↓ 0.02头L1↓LLLL 0 5101520 05101520 Time,h Time,h 图5Mg和S的俄歇峰S随蠕变时间的变化 Fig,5 Changes of Auger peak ratio of Mg and S with increasing creep time e39+℃ 么 吕 知 二， 昌 二 一 多 的山发日‘ 冈比多多产夕只一︵﹄ ” 竺 日日 “ 沙 井多， 科理咧 卜 呵咧 卜 赫 卜 耐 困己的‘ ， ，双 图 对疲劳 蠕变交互 作面性能 的 影响 ‘ 肚 ” ‘ 一 ‘ 刀 “ 、 ， 正五。 “ ， 一 ， 二 一 值 。 的偏析层很 薄 ， 在入射 电子 束作用下有辉 光现 象 ， 导致下 次重复扫 射 时 峰 的 减 弱 ， 本实验以第三 次扫描结果为输出值 。 在蠕变应力作用 下 ， 晶界偏析首先 降低 或转移 ， 随后 又在蠕变孔洞表 面偏聚 ， 而 在低温打断的晶界面上未察觉 有 的偏聚 ， 偏析的不均 匀性增加 了 。 随蠕 变继 续 进 行 ， 蠕变孔洞表面 的 偏析量不 断增高 图 。 蜘 。卜 。 、星 「 研 里 哥 。 。 咨 矗、 刊 、 口 、 若 。 、 登 卜 品 。 乡 书 早 ， 柯 飞 乃 目夕 卜 身 “ · ’只 、留、 反 · 咬 尽 ， 向 月 民 。 。 翻 乍 ，多， 的九 加 ‘ 上 ， 一 叫目‘ 乡 解 一 图 和 的 俄歇峰 随蠕变时间 的变化