10.5ADC在时域内的测试 10.6频域ADC的测试 四、 课程学时分配 课内 上机 课外 教学内容 讲授 实验 学时 学时 小计 1.第一章集成电路测试概述 4 2.第二章VSI测试过程和测试设备 3.第三章数字集成电路中常见的故障 4.第四章组合电路的测试生成 3 5.第五章时序电路的测试方法 6 6 6.第六章可测试性度量 4 4 2 7.第七章可测试性设计 6 2 8.第八章边界扫描技术 4 9.第九章内建自测试 6 10.第十章混合信号测试 4 合计 48 4818 五、 教学设计与教学组织 1、本课程采用课堂讲授、课下辅导的方式，以课堂讲授为主，附以一定比 例的课下作业及答疑时间。 2、使用PowerPoint幻灯片作为主要教学辅助工具，以多模式教学网或课程 网站为主要载体，根据上课内容教师选择演示软件的分析运行进行教学。 3、结合研究性文献、新闻资料及权威公众号上关于集成电路测试技术及发 展趋势的报道，开展课程思政，提高学生对专业的认知及学习主动性。 六、教材与参考资料 1.教材 姜岩峰、张晓波等编著，集成电路测试技术基础，化学工业出版社， 2008年9月. 2.参考资料 (1)雷绍充等编著，超大规模集成电路测试，电子工业出版社，2008年55 10.5 ADC 在时域内的测试 10.6 频域 ADC 的测试 四、 课程学时分配 教学内容 讲授 实验 上机 课内 学时 小计 课外 学时 1. 第一章 集成电路测试概述 4 4 1 2. 第二章 VLSI 测试过程和测试设备 4 4 1 3. 第三章 数字集成电路中常见的故障 4 4 2 4. 第四章 组合电路的测试生成 6 6 3 5. 第五章 时序电路的测试方法 6 6 3 6. 第六章 可测试性度量 4 4 2 7. 第七章 可测试性设计 6 6 2 8. 第八章 边界扫描技术 4 4 1 9. 第九章 内建自测试 6 6 2 10.第十章 混合信号测试 4 4 1 合 计 48 48 18 五、 教学设计与教学组织 1、本课程采用课堂讲授、课下辅导的方式，以课堂讲授为主，附以一定比 例的课下作业及答疑时间。 2、使用 PowerPoint 幻灯片作为主要教学辅助工具，以多模式教学网或课程 网站为主要载体，根据上课内容教师选择演示软件的分析运行进行教学。 3、结合研究性文献、新闻资料及权威公众号上关于集成电路测试技术及发 展趋势的报道，开展课程思政，提高学生对专业的认知及学习主动性。 六、 教材与参考资料 1.教材 姜岩峰、张晓波等编著，集成电路测试技术基础，化学工业出版社， 2008 年 9 月。 2.参考资料 （1）雷绍充等编著，超大规模集成电路测试，电子工业出版社，2008 年 5