7.3可诊断时序电路的设计 7.4可测试时序电路设计中的扫描路径技术 7.5电平敏感型扫描设计 第八章边界扫描技术 (一)基本要求 1、掌握：边界扫描技术的基本原理和测试结构 2、理解：边界扫描技术的主要思想。 3、了解：边界扫描技术的指令。 (二)教学及考核内容 8.1边界扫描的由来 8.2边界扫描测试基本原理 8.3边界扫描测试结构 8.4边界扫描指令 第九章内建自测试 (一)基本要求 1、掌握：内建自测试的原理和测试向量生成技术。 2、理解：内建自测试的规则。 3、了解：内建自测试的结构， (二)教学及考核内容 9.1BIST的测试向量生成技术 9.2输出响应分析 9.3循环型BIST 9.4SoC设计中的BIST 第十章混合信号测试 (一)基本要求 1、掌握：ADC的转换原理，ADC和DAC的电路结构。 2、理解：ADC在时域和频域内的测试方法。 3、了解：ADC和DAC的特性参数和故障模型 (二)教学及考核内容 10.1模数转换器(ADC)简介 10.2ADC和DAC的电路结构 10.3ADC和DAC的特性参数和故障模型 10.4IEE1057标准 4 4 7.3 可诊断时序电路的设计 7.4 可测试时序电路设计中的扫描路径技术 7.5 电平敏感型扫描设计 第八章 边界扫描技术 （一）基本要求 1、掌握：边界扫描技术的基本原理和测试结构。 2、理解：边界扫描技术的主要思想。 3、了解：边界扫描技术的指令。 （二）教学及考核内容 8.1 边界扫描的由来 8.2 边界扫描测试基本原理 8.3 边界扫描测试结构 8.4 边界扫描指令 第九章 内建自测试 （一）基本要求 1、掌握：内建自测试的原理和测试向量生成技术。 2、理解：内建自测试的规则。 3、了解：内建自测试的结构。 （二）教学及考核内容 9.1 BIST 的测试向量生成技术 9.2 输出响应分析 9.3 循环型 BIST 9.4 SoC 设计中的 BIST 第十章 混合信号测试 （一）基本要求 1、掌握：ADC 的转换原理，ADC 和 DAC 的电路结构。 2、理解：ADC 在时域和频域内的测试方法。 3、了解：ADC 和 DAC 的特性参数和故障模型。 （二）教学及考核内容 10.1 模数转换器（ADC）简介 10.2 ADC 和 DAC 的电路结构 10.3 ADC 和 DAC 的特性参数和故障模型 10.4 IEEE 1057 标准