一、掌握文本类组件的使用方法 二、掌握按钮类组件的使用方法 三、掌握列表类组件的使用方法 四、掌握时钟组件和通用对话框组件的使用方法 五、掌握菜单、工具栏和状态栏的设计方法

一、实验目的 1． 掌握查找的不同方法，并能用高级语言实现查找方法。 2． 熟练掌握顺序表和有序表的查找方法以及静态查找树的构造方法和查找算法，理解静态查找树的折半查找方法

一. 实验目的 1． 掌握常用的排序方法，并掌握用高级语言实现排序的算法。 2． 深刻理解排序的定义和各种排序方法的特点，宾能加以灵活应用。 3． 了解各种方法的排序过程以及依据的原则，并掌握各种排序方法的时间复杂度的分析方法

集中趋势的测定方法 离散趋势的测定方法 回归、相关分析的种类及方法 统计推论的方法 计算机用于统计分析的步骤

§3.1 唯一性定理 §3.2 镜像法 §3.3 解析函数法 §3.4 分离变量法 §3.5 格林函数法 本章总结： 解析方法与数值方法的关系 计算电磁学(CEM)发展历史与现状 全波数值方法 高频方法

一、集中趋势的测定方法 二、离散趋势的测定方法 三、回归、相关分析的种类及方法 四、统计推论的方法 五、计算机用于统计分析的步骤

内容摘要: 1.MFC中数组类的使用方法 2MFC中链表类的使用方法 3MFc中字符 CString串类的使用方法 4M中日期和时间类的使用方法 5.mfc中CPoint类、 CSizeCRect类和类的使用方法

通过实验和第一性原理计算的方法研究了氢致PZT-5H铁电陶瓷导电性变化的规律和机理.随着充H含量的增加,PZT-5H陶瓷的电阻率逐渐降低,当陶瓷中总H的质量分数为11.2×10-6时电阻率降至1.51×109Ω.cm,介于半导体和绝缘体之间.随着H含量进一步升高,霍尔效应表明PZT-5H陶瓷变成n型半导体.第一性原理计算表明,当进入Pb(Zr0.5-Ti0.5)O3晶格的H质量分数等于临界值(96×10-6)时,[Pb(Zr0.5Ti0.5)O3]32H系统变成了半导体;随着H含量的升高,态密度图向低能方向平移,[Pb(Zr0.5Ti0.5)O3]nH系统变成了导体

提出将线型激光束垂直投射到钢板表面,通过面阵CCD摄像机采集激光线在钢板表面的图像来计算表面缺陷深度的三维检测方法.利用中点法对激光图像进行细化,并根据稳定点判别依据提取激光线形.采用分区标定方法对摄像机进行标定,由空间还原思想恢复激光线形的空间坐标.根据扫描投影的方法选择理想表面方向作为缺陷深度计算的基准,实现对缺陷深度信息的定量计算.通过对缺陷样品验证的结果表明,采用该方法得到的计算值与实际值非常接近

第一节矩阵位移法的概念 第二节单元刚度矩阵 第三节结构刚度矩阵 第四节坐标转换矩阵 第五节非结点荷载的处理 第六节矩阵位移法的解题步骤 第七节结构分析的计算机方法简