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6.1 存储器类型与组成 6.2 存储单元工作原理【重点】 6.3 内存芯片工作原理 6.4 内存主要技术性能【重点】 6.5 内存条基本设计 6.6 内存条接口与信号 6.7 内存故障分析与处理
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 CMOS简单OTA  CMOS密勒OTA  CMOS对称OTA  CMOS折叠共源共栅OTA  其他运放
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 导言  跨阻放大器的并联-并联反馈  电流放大器的并联-串联反馈  低噪声和高频的跨阻放大器
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 噪声定义  共源放大器的噪声  源极跟随器的噪声  共栅放大器的噪声  电流镜的噪声  差分对的噪声  密勒CMOS OTA的噪声  容性噪声匹配  电压/电流检测器的噪声对比
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 定义  电压放大器的串联-并联反馈  跨导放大器的串联-串联反馈
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 运算放大器的使用  两级运放的稳定性  极点分离  正零点的补偿  三级运放的稳定性
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§1.8.1 基本指标 §1.8.2 功率放大器设计原则 §2.1微波混频器件 §2.2肖特基势垒二极管 §2.3非线性电阻混频原理 §2.4微波混频器电路
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第六章 频率响应综合法 系统综合: 根据系统已知部分的特性,确定校正方式和校正装置,使系统的整体特性符合要求。 综合的核心是设计校正装置。 校正方式: 串联(重点)、反馈、前馈、复合。 频域综合:设计校正装置,使开环频率特性曲线(主要是幅频特性的Bode图)满足要求。 状态空间方法(现代控制理论) 数学模型—— 一阶微分方程组 分析—— 时域 核心内容—— 状态变量的可控、可观性 设计—— 状态反馈、极点配置、最优控制 状态信息的获取——状态观测器 (涉及第二、三、七、八章) 第九章 离散控制系统 1. 信号的采样与保持 采样过程与采样定理,零阶保持器 2. 离散系统的数学描述 z变换,差分方程,脉冲传递函数(开环、闭环) 3. 离散系统的z域分析法 稳定性,极点分布与暂态性能,稳态误差 第十章 非线性控制系统: 非线性系统的特点 典型非线性特性及其特征(死区、饱和、间隙、继电特性) 二阶线性系统的相轨迹(与极点的关系) 相轨迹的绘制(解析法,等倾线法) 由相轨迹图求时间及时间响应(积分法,增量法) 非线性控制系统的相平面分析
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