多色测温仪是近年来国内外进行了较多研究的课题之一,它对于削弱表面辐射系数对测温精度的影响有较好的效果。本文设计了一种多色辐射测温仪。运用经典的普朗克公式,由表面黑度系数的幂级数形式,从理论上推导了多色辐射测温公式。并讨论了这个公式对于克服黑度系数影响的作用以及它的测温误差。多色测温仪设计中采用光导纤维光学系统,实现了被测辐射信号的传输及对四个光电元件的分叉耦合。利用单板计算机进行回色信号处理。仪表经黑体炉标定,并针对不同金属耙面,研究了四色温度与比色温度的误差。仪表经计量部门标定及实验室试验,认为多色测温技术是消弱表面黑度系数对测温精度影响的有效方法之一

地球科学概论实验 地质学基础 B实验 结晶学与矿物学 A实验 结晶学与矿物学 B实验 晶体光学及光性矿物学实验 岩石学 AI实验 岩石学 AⅡ实验 岩石学 AⅢ实验 构造地质学 A实验 构造地质学 B实验 古生物学及地层学 A()实验 古生物学及地层学 B()实验 地球化学 A实验 地质学基础 AI（矿物部分）实验 地质学基础 AI（岩石学部分）实验 地质学基础 AII实验 地球化学通论实验 中国地质学实验 岩石学 B实验 遥感地质学 A实验 宝石资源地质学实验 区域地质调查方法与技术实验 沉积环境与沉积相实验 理论古生物学()实验 门类古生物学实验 地球演化Ⅱ实验 中国区域地层()实验 地理信息系统 A实验 地理信息系统导论实验 地貌学与第四纪地质学 A实验 砂岩中的地质流体记录实验 地球化学理论与应用()实验 火成岩成因研究方法与实例实验 变质作用研究方法与实例实验 区域分析与区域规划实验 地貌学与第四纪地质学 B实验 矿床学 B实验 石油地质学 A实验 现代仪器分析技术实验 自然地理学 A实验 地层学基础()实验 构造解析实验 区域构造分析实验 成矿构造分析实验 第四纪地质与环境实验 构造地质学研究方法实验 电子探针分析方法及在地质中的应用实验 现代同位素分析方法及在地学中的应用实验 地质力学实验 数字地质科学概论实验 矿田构造学实验 地图学 A实验 三维地质建模与可视化实验 遥感数字图像处理 A实验 地学计算与可视化实验 空间数据库原理实验 矿产勘查学()实验 矿床学 A实验 矿山地质学实验 采矿学概论实验 选矿学概论实验 矿石学实验 矿相学()实验 矿业权评估概论实验 流体包裹体实验 重砂测量与分析实验 中外含油气盆地()实验 不动产估价实验 土地利用规划实验 油气田地下地质学实验 土地信息系统实验 土壤学()实验 气候与气象学实验 遥感技术及应用 A实验 显微构造学()实验 现代沉积学实验 现代地貌学实验 油层物理学实验 GIS 设计与开发实验 地质认识实习 地质教学实习 地质教学实习（地理科学专业） 地质学基础教学实习 A 地质学基础教学实习 B 地质学专业专业实习 A 土地资源调查与测量教学实习 地质学专业生产实习 A 地质学专业毕业实习与毕业论文 A 实践技能培训 学科基础主干课程综合研修 地理科学专业“3S”技术综合运用实习 资源勘查工程专业(石

一、理想光学系统的衍射现象 二、光学系统的分辨本领

一、偏振光(Parallel polarized light)的干涉 1、干涉装置：

一、偏振光(Polarized light)的表示 1、线偏振光(Linearly polarized light)的分解

一、偏振器件(Polarizing device)作用:产生偏振光或检测偏振光

第一章 几何光学 本章基本要求 专题 1.1 光的反射 全反射 专题 1.2 光的折射 专题 1.3 光学成像 专题 1.4 光具组成像 光学作图 作业习题与解答 第二章 波动光学基础 专题 2.1 光波 光波的叠加 专题 2.2 光的横波性 偏振 第三章 光的干涉 专题 3.1 分波前干涉 专题 3.2 分振幅干涉 专题 3.3 光的时空相干性 第四章 光的衍射 专题 4.1 光的衍射 Fresnel 衍射 专题 4.2 Fraunhofer 衍射 专题 4.3 衍射光栅 第五章 晶体偏振光学 专题 5.1 双折射 晶体光学器件 专题 5.2 偏振光的获得与检验 第六章光的散射 第七章光的量子性 模拟试卷 参考答案 全书例题参考答案索引

一、光学研究范围 光学一光现象的科学:光学是物理学的组成部分。它研究的对象是光。研究的内容包括光的本性,光的发射、 传播、接收,以及光和物质的相互作用等

➢ 研究非线性光学的意义 ➢ 非线性光学的研究内容 ➢ 非线性光学的发展历史和发展趋势 ➢ 非线性光学的典型应用 ➢ 典型的非线性光学过程

超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件，在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先，对超精密光学元件主要检测技术进行了综述，重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈；其次，针对光学检测技术中的相位解调问题，以波长移相测量技术为例，结合超精密平面光学元件检测，概述了相位解调算法的原理与实现过程，并对其性能进行综合评估；最后，展望光学元件检测技术的未来发展趋势