第一阶段:传统的光学装置及仪器,不能胜任对 复杂光信息高速采集和处理的要求 第二阶段:半导体集成电路技术,可以将探测器 件及电路集成在一个整体中,也可以将具有多个 检测功能的探测器件集成在一个整体中。其价格 低,体积小。例如,将图形、物体等具有二维分 布的光学图像转换成电信号的检测器件是把基本 的光电探测器件组成许多网状阵列结构,引人注 目的器件CCD就是一种将阵列化的光电探测与扫 描功能一体化的固态图像检测器件。它是把一维 或二维的光学图像转换成时序电信号的器件,能 广泛引用于自动检测、自动控制,尤其是图像识 别技术

复习: 1、包容原则、孔轴合格条件 2、普通测量仪器可把每个零件的尺寸、形状分别测量出来,但效率低,不方便。大批生产零件可用专用量具检验。 光滑工件尺寸的检测及量规设计光滑工件尺寸通常采用普通计量器具测量或用光滑极限量规检验。 对于一个具体的零件,是选用计量器具还是选用量规,要根据零件图样 上遵守的公差原则来确定。 当零件图样上被测要素的尺寸公差和形位公差遵守独立原则时,该零件 加工后的尺寸和形位误差采用通用计量器具来测量。 当零件图样上被测要素的尺寸公差和形位公差遵守相关原则时,应采用光滑极限量规或位置量规来检验。 在此重点介绍光滑极限量规(包容原则)即介绍GB1957-81《光滑极限 量规》标准