电子设备所需的直流电源，一般都是采用由交流电 网供电，经“整流”、“滤波”、“稳压”后获得。所 谓“整流”指把大小、方向都变化的交流电变成单向脉 动的直流电，能完成整流任务的设备称为整流器。所谓 “滤波”指滤除脉动直流电中的交流成分，使得输出波 形平滑，能完成滤波任务的设备称为滤波器。所谓“稳 压”指输入电压波动或负载变化引起输出电压变化时， 能自动调整使输出电压维持在原值。本章将着重介绍单 相桥式整流电路、电容滤波电路、串联型稳压电路、开 关型稳压电路的原理和应用

9.1信号的频谱 9.2扫描式频谱仪 9.3付里叶分析仪 9.4频谱仪在频域测试中的应用 9.5谐波失真度测量 9.6调制度测量

8.1信号源概述 8.2正弦、脉冲及函数发生器 8.3锁相频率合成信号的产生 8.4直接数字合成技术 8.5合成信号源简介

第6章目标距离的测量 6.1脉冲法测距 6.2调频法测距 6.3距离跟踪原理 6.4数字式自动测距器

纳米给人的新希望 拥有一台只有手掌大小的超级电脑或许仍是个遥不可及的梦想,不过来自美国及荷 兰的最新研究结果,使人们朝这个目标迈出了重要的一步。 当你我可能还为着广告中那即薄又轻的笔记型电脑钦羡不己的时候,科学家早已把 目光放在纳米尺度的电子元件上。虽然早在1974年, aviram和 Ratner便提出了分子级 电子元件( molecular electronic device)的概念,直到最近几年,科学家才知道如何以碳纳 米管( carbon nanotube)、纳米线( nanowire)或有机分子建构导线、开关等单一电子元 件 而根据在几周前的 Science的一篇文章,荷兰 Delft University of Technology的ces Dekker所带领的研究小组已成功地利用碳纳米管制作了好几种数位逻辑运算电路

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

第一章 晶体结构 第二章 固体的结合 第三章 晶格振动与晶体的热学性质 第四章 能带理论 第五章 晶体中电子在电场和磁场中的运动 第六章 金属电子论 第七章 半导体电子论 第八章 固体的磁性 第九章 固体中的光吸收 第十章 超导电的基本现象和基本规律 第十一章 固体中的元激发 第十二章 晶体中的缺陷和扩散 第十三章 相图

第5章雷达作用距离 5.1雷达方程 5.2显小可检测信号 5.3脉冲积累对检测性能的改善 5.4目标截面积及其起伏特性 5.5系统损耗 5.6传播过程中各种因素的影响 5.7雷达方程的几种形式

第4章雷达终端显示器和录取设备 4.1雷达终端显示器 4.2距离显示器 4.3平面位置显示器 4.4计算机图形显示 4.5雷达数据录取 4.6综合显示 4.7光栅扫描雷达显示

通用电气（G E）是美国最大的也是最成功的公司之一。它在世界各地从事各种各样的经 营活动，包括电器、机电和电子产品、广播和各种金融与保险业务。 G E最古老的产品便是通 用照明设备，它在北美和世界其他地方的 28 家工厂中生产 3万多种电灯泡。生产电灯泡所用 的原料都是标准配件，如玻璃、铝、各种绝缘塑料和灯丝等