内容提要 • ARM体系结构概览 – ARM历史 – ARM体系结构特征 – ARM片上总线AMBA – ARM对调试的支持 – 虚存管理 • ARM编程模型 – ARM微处理器的工作状态 – ARM体系结构的存储器模式 – ARM微处理器的操作模式 – ARM体系结构的寄存器组织 – ARM微处理器的异常状态 • Cortex M处理器

CH1：微型计算机概论 CH2：微处理器 CH3：总线驱动 CH4：存储器系统设计 CH5-6：I/O接口

• 8.1 串行通信概述 • 8.2 常用的串行通信总线 • 8.3 MCS-51的串行接口 • 8.4 MCS-51单片机之间的通信 • 本章小结 • 习题

《APP 开发与应用》 《ARM 技术原理与应用》 《DSP 技术原理及应用》 《FPGA 设计与应用》 《MATLAB 原理及工程应用》 《传感器与检测技术》 《单片机原理及应用》 《电器及 PLC 控制技术》 《电子电器通用项目测试》 《电子电器原理与应用》 《电子系统设计》 《电子线路 CAD》 《电子仪表测量》 《高频电路》 《工程电磁场导论》 《过程检测技术及仪表》 《模拟电子技术》 《嵌入式开发与应用》 《数字电子技术》 《数字图像处理》 《数字信号处理》 《通信原理》 《微波技术与天线》 《现场总线技术》 《现代交换技术》 《现代通信系统》 《信号与系统》 《信息理论与编码》 《语音信号处理》 《专业导论》 《专业英语》

4.1 数据采集及数据采集系统 4.2 信号获取与信号调理技术 4.3 采样保持与A/D转换技术 4.4 数据存储与数据传输技术 4.5 PCI总线及其接口技术 4.6 多通道的组建方案 4.7 多功能数据采集卡典型实例分析

◼单片机系统的三总线的构造 ◼半导体存储器 ◼程序存储器和数据存储器的扩展方法 ◼E2PROM的使用 ◼程序存储器和数据存储器的同时扩展

2.1 测试系统特性 2.2 常用传感器 2.3 常见物理量的测量 2.3.1 温度的测量 2.3.2 流体参量的测量 2.4 计算机测试系统与虚拟仪器 2.4.0 序 2.4.1 计算机测试系统的基本组成 2.4.2 计算机测试系统的总线技术 2.4.3 虚拟仪器 2.4.4 网络化测试仪器 2.4.5 计算机采集实例

4.1 A/D、D/A转换 4.2 采样与保持 4.3 输入/输出接口与过程通道 4.4 PLC的接口技术 4.5 集散控制系统 4.6 现场总线控制技术 4.7 工业以太网控制系统

1 中断概念及处理过程 2 8086的中断系统 3 可编程中断控制器8259A及其应用 4 总结 §8.1概念及处理过程 1、中断概念 2、中断源 3、中断处理过程 （1）中断请求 （2）中断判优 （3）中断响应 （4）中断服务 ①②③④⑤ （5）中断返回 §8.2 8086中断系统 1、中断源与中断类型号 2、中断向量表 3、中断响应过程 4、中断时序 §8.3 中断控制器Intel8259A 1、性能 2、结构和工作原理 3、外部引脚和工作过程 4、工作方式 （1）中断优先权管理方式①②③④ （2）中断源屏蔽方式①② （3）结束中断方式①②③④ （4）与系统总线的连接方式①② （5）引入中断请求的方式①②③ 5、8259A的编程 （1）端口地址 （2）初始化编程ICW1-ICW4 （3）操作编程OCW1-OCW3 6、级联

◼单片机系统的三总线的构造 ◼半导体存储器 ◼程序存储器和数据存储器的扩展方法 ◼E2PROM的使用 ◼程序存储器和数据存储器的同时扩展