控制系统的时域分析法 • 稳定性 • 稳态性能 • 动态性能 本章小结： 闭环系统稳定性 • 工程系统能正常工作的前提必须是稳定的 • 劳斯稳定性判据 系统稳态特性 • 系统的控制精度问题 • 稳态误差系数：位置误差系数、速度误差系数、加速度误差系数 • 稳态误差系数由系统的结构和参数决定 • 结构：开环系统中所含有积分器的数量 • 参数：系统的开环增益 系统动态特性 • 动态性能指标：超调量，调整时间，上升时间和延迟时间 • 逼近性：超调量和调整时间 • 快速性：上升时间和延迟时间 • 二阶系统的动态响应：阻尼比和无阻尼振荡角频率 • 高阶系统的动态特性可以用主导极点近似

礼记卷一 曲礼 礼记卷二 檀弓 礼记卷三 王制 礼记卷四 月令 礼记卷五 曾子问 礼记卷六 文王世子 礼记卷七 礼运 礼记卷八 礼器 礼记卷九 郊特牲 礼记卷十 内则 礼记卷十一 玉藻 礼记卷十二 明堂位 礼记卷十三 丧服小记 礼记卷十四 大传 礼记卷十五 少仪 礼记卷十六 学记 礼记卷十七 乐记 礼记卷十八 杂记 礼记卷十九 丧大记 礼记卷二十 丧服大记 礼记卷二十一 祭法 礼记卷二十二 祭义 礼记卷二十三 祭统 礼记卷二十四 经解 礼记卷二十五 哀公问 礼记卷二十六 仲尼燕居 礼记卷二十七 孔子闲居 礼记卷二十八 坊记 礼记卷二十九 中庸 礼记卷三十 表记 礼记卷三十一 缁衣 礼记卷三十二 奔丧 礼记卷三十三 问丧 礼记卷三十四 服问 礼记卷三十五 间传 礼记卷三十六 三年问 礼记卷三十七 深衣 礼记卷三十八 投壶 礼记卷三十九 儒行 礼记卷四十 大学 礼记卷四十一 冠义 礼记卷四十二 昏义 礼记卷四十三 乡饮酒义 礼记卷四十四 射义 礼记卷四十五 燕义 礼记卷四十六 聘义 礼记卷四十七 丧服四制

第一节 电磁波的一般概念 一、光的频率与波长 二、光的能量及分子吸收光谱 第二节 紫外和可见吸收光谱 一、紫外光谱及其产生 二、朗勃特—比尔定律和紫外光谱图 三、紫外光谱与有机化合物分子结构的关系 四、紫外光谱的应用 第三节 红外光谱 一、红外光谱图的表示方法 二、红外光谱的产生原理 三、红外光谱与分子结构的关系 四、 红外吸收峰的强度 五、红外光谱图解析举例 第四节 核磁共振谱 一、基本知识 二、屏蔽效应和化学位移 三、峰面积与氢原子数目 四、峰的裂分和自旋偶合 五、磁等同和磁不等同质子 第五节 质谱（MS）简介

第一部分 ICETEK–VC5509-AE 评估板硬件使用指导 第一章 ICETEK–VC5509-AE 评估板技术指标. 第二章 ICETEK–VC5509-AE 原理图和实物图 . 第三章 接插件位置和拨档开关设置. 第四章 二次开发扩展总线（P1，P2，P3，P4）的定义与应用 第五章 TMS320VC5509 的存储空间和评估板的存储器映射 第六章 ICETEK–VC5509-AE评估板 I/O 寄存器的设计和使用. 第二部分 ICETEK-VC5509-AE 教学系统软件使用指导 实验设备安装 一．开发环境 . 二．ICETEK-DSP 教学实验箱的硬件连接 . 三．构造 DSP 开发软件环境 . 四．启动和设置 CCS 一．CCS 软件应用实验 实验 1 ：Code Composer Studio 入门 . 实验 2 ：编写一个以 C 语言为基础的 DSP 程序 . 实验 3 ：编写一个以汇编(ASM)语言为基础的 DSP 程序 实验 4 ：编写一个汇编和 C 混合的 DSP 程序 . 二．基于 DSP 芯片的实验 . 实验 ：DSP 数据存取实验 三．基于 DSP 系统的实验 . 实验 ：指示灯实验 . 实验 ：拨码开关控制实验 . 第三部分 ICETEK-VC5509-AE 教学实验指导 . 实验 ：单路，多路模数转换（AD） . 实验 ：外中断 . 实验 ：DSP 的定时器

1、掌握检测仪表的组成、作用和描述仪表性能的参数。 2、了解测量误差的基本概念和误差分析方法。 3、掌握温度检测的基本方法和仪表，特别是热电偶和热电阻测温。 4、掌握流量检测的基本方法和仪表，特别是差压式、电磁和超声波流量检测。 5、掌握压力检测的基本方法和仪表，特别是弹性式、电阻式和电容式检测方法。 6、掌握物位检测的基本方法和仪表，特别是浮力式、差压式、电容式和超声波方法。 7、了解检测仪表的选型、安装和校验。 8、掌握变送器的工作原理和零点及量程迁移。 9、掌握成分参数检测的基本方法。 10、掌握热导式分析仪表的工作原理。 11、掌握热磁式分析仪表的工作原理。 12、了解色谱分析方法的基本原理

2.1 AT89S52单片机的硬件组成 2.2 AT89S52的引脚功能 2.2.1 电源及时钟引脚 2.2.2 控制引脚 2.2.3 并行I/O口引脚 2.3 AT89S52的CPU 2.3.1 运算器 2.3.2 控制器 2.4 AT89S52的存储器结构 2.4.1 程序存储器空间 2.4.2 数据存储器空间 2.4.3 特殊功能寄存器 2.4.4 位地址空间 2.4.5 存储器结构总结 2.5 AT89S52的并行I/O端口 2.5.1 P0口 2.5.2 P1口 2.5.3 P2口 2.5.4 P3口 2.6 时钟电路与时序 2.6.1 时钟电路设计 2.6.2 时钟周期、机器周期、指令周期与指令时序 2.7 复位操作和复位电路 2.7.1 复位操作 2.7.2 复位电路设计 2.8 AT89S52单片机的最小应用系统 2.9 看门狗定时器（WDT）功能简介 2.10 低功耗节电模式 2.10.1 空闲模式 2.10.2 掉电运行模式

1 化学反应速度、反应级数和活化能的测定 2 弱电解质电离常数的测定 3 氧化还原与电化学 4 银氨配离子配位数的测定 5 磺基水杨酸合铜配合物的组成及其稳定常数的测定 6 硫酸亚铁铵的制备和性质 7 三草酸合铁酸钾的制备和性质. 8 硫代硫酸钠的制备 9 水溶液中 Na+、K+、NH4+、Mg2+、Ca2+、Ba2+等离子的分离和检出 10 P 区元素重要化合物的性质 . 11 DS 区重要元素化合物的性质. 12 水溶液中 Ag+、Pb2+、Hg2+、Cu2+、Bi3+、Zn2+等离子的分离和检出 13 D 区元素重要化合物的性质 14 水溶液中 Fe3+、Co2+、Ni2+、Mn2+、Al3+、Cr3+、Zn2+等离子的分离和检出 15 阴离子定性分析63

实验一 电视教学(基本操作方法) 实验二 仪器认领、玻璃加工和塞子钻孔 实验三 粗食盐的提纯 实验四 硫酸亚铁铵的制备 实验五 硫代硫酸钠的制备 实验六 化学反应速率与活化能 实验七 中和热的测定 实验八 凝固点降低法测分子量 实验九 胶体溶液 实验十 酸碱平衡(一)与缓冲溶液 实验十一 酸碱平衡(二)与沉淀平衡 实验十二 醋酸离解常数与离解度的测定 实验十三 氧化还原与电化学 实验十四 配合物的性质 实验十五 硫酸四氨合铜(Ⅱ)和三氯化六氨合钴(Ⅲ)的制备 实验十六 银氨配离子配位数及稳定常数的测定 实验十七 磺基水杨酸合铁(Ⅲ)配合物的组成及稳定常数的测定 实验十八 重要金属和非金属元素化合物

9.1 I/O接口扩展概述 9.1.1 扩展的I/O接口功能 9.1.2 I/O端口的编址 9.1.3 I/O数据的传送方式 9.1.4 I/O接口电路 9.2 AT89S52扩展I/O接口芯片82C55的设计 9.2.1 82C55芯片简介 9.2.2 工作方式选择控制字及端口PC置位/复位控制字 9.2.3 82C55的3种工作方式 9.2.4 单片机扩展82C55的接口设计 9.2.5 AT89S52扩展82C55的应用举例 9.3 利用74LSTTL电路扩展并行I/O口 9.4 用AT89S52单片机的串行口扩展并行口 9.4.1 用74LS165扩展并行输入口 9.4.2 用74LS164扩展并行输出口 9.5 用I/O口控制的声音报警接口 9.5.1 蜂鸣音报警接口 9.5.2 音乐报警接口

实验 1 金属材料拉伸实验 3 实验 2 应变计的粘贴工艺 9 实验 3 电阻应变计的热输出 10 实验 4 电阻应变计测量原理实验指导 11 实验 5 材料弹性常数(E)实验指导 14 实验 6 弯曲正应力分布实验 16 实验 7 薄壁圆管弯扭组合应力测定实验 18 实验 8 开口薄壁梁弯心及应力等测定实验 22 实验 9 开口薄壁截面的约束扭转和圣维南原理实验 23 实验 10 冲击应力及动荷系数 26 实验 11 电测法测定衰减振动参数 28 实验 12 电测法标定加速度传感器的电压灵敏度 30 实验 13 单自由度系统强迫振动的幅频特性 31 实验 14 曲柄滑块机构角位移测量 33 实验 15 曲柄滑块机构的线位移和加速度测量 36 实验 16 拉伸应变硬化指数（n 值）实验(设计型实验) 40 实验 17 工程结构电测应力分析(设计型实验)任务书 42 实验 18 工程结构减振实验(设计型实验)任务书 43 演示实验 19 金属材料压缩剪切及扭转破坏实验 44 演示实验 20 金属材料疲劳演示实验 48 演示实验 21 光弹实验 49 演示实验 22 转子临界转速实验 53