建筑施工测量的原则:先在施工建筑场地建立统一的平面高程控制网,再在此 基础上,测设出各个建筑物

定时/计数器是单片机系统一个重要的部 计数器是单片机系统一个重要的部 件，其工作方式灵活、编程简单、使用方便， 件，其工作方式灵活、编程简单、使用方便， 可用来实现定时控制、延时、频率测量、脉宽 测量、信号发生、信号检测等。此外，定时 等。此外，定时/ 计数器还可作为串行通信中波特率发生器。 计数器还可作为串行通信中波特率发生器

一、 预科实验 实验一 测定冰的熔化热 实验二 电学实验基本知识和测量非线性元件的伏安特性 实验三 示波器的使用 实验四 测量薄透镜的焦距 实验五 显微镜 二、 基础实验-I 实验六 测量误差和不确定度 实验七 测定金属的杨氏模量 实验八 刚体转动实验 实验九 气轨上弹簧振子的简谐振动 实验十 扭摆的受迫振动 实验十一 复摆实验 实验十二 测定媒质中的声速 实验十三 弦上驻波实验 实验十四 直流电桥测量电阻 实验十五 用非平衡测量铂电阻的温度系数 实验十六 霍尔效应测量磁场 实验十七 LCR的谐振现象 实验十八 弗兰克-赫兹实验 实验十九 虚拟仪器基础-LabVIEW入门 实验二十 分光计的调节和用掠入射法测折射率 实验二十一 光衍射的定量研究 实验二十二 观察光的偏振现象 实验二十三 迈克耳孙干涉仪 三、 基础实验-II 实验二十四 高温超导材料特性测试和低温温度计 实验二十五 闪光法测定不良导体的热导率 实验二十六 动态法测定良导体的热导率 实验二十七 真空镀膜实验 实验二十八 交流电桥 实验二十九 RLC串联电路的暂态过程 实验三十 磁滞回线的测量 实验三十一 光栅特性及测定光波波长 实验三十二 偏振光的定量研究 实验三十三 全息照相 实验三十四 阿贝成像原理和空间滤波 实验三十五 光源的时间相干性 实验三十六 光栅光谱仪的校准和使用 实验三十七 光学多道分析器（OMA）研究氢原子光谱 实验三十八 微波的布拉格衍射 实验三十九 X射线衍射 实验四十 共振法测定杨氏模量及其与温度的关系

在不同本底真空和工作气压下制备了不同厚度的Ni81Fe19/Ta薄膜,并进行了磁性测量和原子力显微镜分析.结果表明,较厚的薄膜、较高的本底真空和较低的工作气压下制备的薄膜有较大的各向异性磁电阻.其原因是高本底真空和低工作气压导致大晶粒度和低粗糙度,进而降低电子的散射,减小电阻R,增大△R/R.而较厚薄膜中,大晶粒度的作用将抵消高粗糙度的负作用,使△R/R值增大

第一节控制与控制程序 一、控制的含义与必要性 1、控制的含义 一般意义的控制就是指引导一个动态系统达成预定状态。例:空调器对室内温度的控 制。 管理学中的控制是指按照既定目标和标准,对组织活动进行监督、测量,发现偏差并分 析原因,采取措施使组织活动符合既定要求的过程

高水平的工艺良品率是生产性能可靠的芯 片并获得收益的关键所在。本章将简单介绍影 响良品率的主要工艺及材料要素,并对良品率 测量点做出阐述。 维持及提高良品率对半导体工业至关重要 ,因为半导体制造工艺的复杂性,以及生产一 个完整封装器件所需要经历的庞大工艺制程, 是导致这种对良品率超乎寻常关注的基本原因 。这两方面的原因使得通常只有20%至80%的芯 片能够完成生产线全过程,成为成品出货

一、概述 高水平的工艺良品率是生产性能可靠的芯 片并获得收益的关键所在。本章将简单介绍影 响良品率的主要工艺及材料要素,并对良品率 测量点做出阐述。 维持及提高良品率对半导体工业至关重要 ,因为半导体制造工艺的复杂性,以及生产一 个完整封装器件所需要经历的庞大工艺制程, 是导致这种对良品率超乎寻常关注的基本原因 。这两方面的原因使得通常只有20%至80%的芯 片能够完成生产线全过程,成为成品出货

一、理解测量科学技术在土木工程的意义 二、掌握坐标系统、高程系统的概念和应用。 三、理解测量定位概念与技术过程。 四、把握绪论对于学习工程测量技术的基本导向 第一节 测量学与土木工程 第二节 地球体的有关概念 第三节 坐标系统的概念 • 一、大地坐标系统 • 二、高斯平面直角坐标系统 • 三、独立平面直角坐标系 第四节 高程系统的概念 • 一、高程系统的一般概念 • 二、实际应用中的地面点高程的概念 第五节 地面点定位的概念 • 一、地面点定位的技术过程 • 二、地面点定位元素 • 三、地面点定位的工作原则

16-1原子的光谱发射 16-2光谱仪器及测量 16-3光谱定量定性分析问题 16-4电感耦合等离子质谱法

1、检测装置的干扰来源分类及原因？ 2、影响系统工作的干扰形成应具备哪些条件？ 3、常见的干扰耦合方式有哪些？ 4、根据干扰进入测量电路的方式与有用信号的关系，可将噪声干扰分为哪两类？ 5、什么是差模干扰？又称什么？如何消除？