一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

北京大学：《电路分析原理 Circuit Analysis》课程教学课件（英文版）第七章 链式网络与传输线 第二节：链式网络与传输线

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