实验一 常用电子仪器的使用 实验二 用multisim软件进行网络定理验证 实验三 电子元器件参数测试及交流特性分析 实验四 一阶电路时域响应的研究 实验五 交流电路认识及参数测试 实验六 交流控制电路设计 实验七 RLC电路频率特性测试及谐振电路分析

第一节 3M测试片快速分析技术 第二节 Mini-VIDAS快速分析测试技术 第三节 利用电导率快速分析测试技术 第四节 膜过滤荧光染色法 第五节 利用酶促反应定量检测微生物 第六节 利用免疫反应快速检测微生物

顺序表的基本操作主要有: 1.建立一个空表 2.销毁一个顺序表 3.清空顺序表 4.测试顺序表是否为空表 5.测试顺序表是否已满 6.获得顺序表的最大长度 7.获得表中实际元素个数 8.取得表中指定位置上元素的值 9.在表中查找指定的数据元素 10.在指定位置插入一个数据元素 11.删除表中指定位置上的数据元素 12.遍历顺序表,主要用于测试顺序表

① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

利用自制外控电位浮选槽研究了矿物粒度、矿浆pH值、外控电位大小等因素对黄铜矿和辉钼矿浮选行为的影响, 从而找到二者分离的条件并进行了铜钼混合精矿的外控电位浮选分离, 采用循环伏安测试和腐蚀电偶测试验证了上述试验结论. 研究结果表明, -150+31 μm的黄铜矿受外控电位影响大, 容易被抑制, 而辉钼矿则不容易被抑制. -31 μm的黄铜矿和辉钼矿可浮性均较差, 受外控电位影响较小. 外控电位浮选在碱性条件下进行有利于实现抑铜浮钼. 在pH值11的条件下, 抑铜浮钼的最佳分离外控电位为-1100~-700 mV(vs Ag/AgCl). 在pH值为11、外控电位-800 mV(vs Ag/AgCl)的条件下对多宝山铜钼混合精矿进行浮选分离, 经过一次浮选分离可得到钼回收率80.57%、铜回收率10.19%的钼粗精矿, 辉钼矿和黄铜矿的浮游差达到70.38%, 这使外控还原电位下浮选分离黄铜矿和辉钼矿成为可能. 另外, 腐蚀电偶测试结果表明: 黄铜矿和辉钼矿间的电偶腐蚀对于抑铜浮钼浮选有促进作用

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