苏州大学：能源学院《材料分析与测试方法》课程教学大纲

一、概述 二、薄膜样品的制备 三、衍衬成象原理 四、相位衬度简介

扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM )之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或 透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照 明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描 方式照射到试样上,产生各种与试样性质有 关的信息,然后加以收集和处理从而获得微 观形貌放大像

在最近20多年的时间内，扫描电子显微镜 发展迅速，又综合了X射线分光谱仪、电子 探针以及其它许多技术而发展成为分析型 的扫描电子显微镜，仪器结构不断改进， 分析精度不断提高，应用功能不断扩大， 越来越成为众多研究领域不可缺少的工具， 目前已广泛应用于冶金矿产、生物医学、 材料科学、物理和化学等领域

东南大学：分析测试中心金属材料、先进材料专业方向大型实验（PPT课件）实验一 钢的奥氏体晶粒度与加热温度的关系

一、概述 二、质厚衬度原理

▪概述 ▪电子衍射原理 ▪电子显微镜中的电子衍射 ▪单晶电子衍射花样标定 ▪复杂电子衍射花样

一、透射电镜的结构原理 二、射透电镜的主要性能

一、引言 二、结因子 三、晶体的衍射度

曲阜师范大学：新能源材料与器件专业《发光材料测试与分析》课程教学大纲