7-1选择题 8.B 9.B 7-2判断题 1.√2.√3.√4.√5.×

一、判断下列说法是否正确,用“√”和“”表示判断结果填入空内。 (1)在N型半导体中如果掺入足够量的三价元素,可将其改型为P型半导体。()

试验目的:掌握距离跟踪的原理。熟悉截获条件和失捕条件的含义。观察当截获条件和失捕条件改变时,对于动目标的跟踪情况的变化。 实验内容: 1.熟悉实验装置的电路结构和器件,检查电源线是否连接,检查快速熔断器是否良好。 2.连接目标积累回波信号输出到示波器。 3.连接跟踪波门信号输出到示波器

试验目的:熟悉恒虚警检测的原理和发现概率的含义观察固定虚警概率条件下,发现概率的大小。 实验内容: 1.熟悉实验装置的电路结构和器件,检查电源线是否连接,检查快速熔断器是否良好。 2.改变虚警率的值,观察发现概率的变化

1.熟悉实验装置的电路结构和器件,检查电源线是否连接,检查快速熔断器是否良好。 2.连接回波信号输出到示波器。 3.改变拖引速度,观察示波器上信号回波的变化

1.熟悉实验装置的电路结构和器件,检查电源线是否连接,检查快速熔断器是否良好。 2.连接回波信号输出到示波器。 3.改变拖引速度,观察示波器上信号回波的变化

第一节S7-200系列PLC的构成 第二节S7-200系列PLC内部元器件 第三节S7-200系列PLC的基本指令 第四节S7m200系列PLC功能指令

第1章电力电子器件 第2章整流电路 第3章直流斩波电路 第4章交流电力控制电路和交-交变频电路 第5章逆变电路 第6章脉宽调(PWM)技术

1.1半导体基础知识 1.1.1本征半导体 定义:纯净的具有晶体结构的半导体称为本征半导体

①首先检查 CMOS SETUP是否丢失了硬盘配置信息。测量主板上 COMS RAM电路是否为电池有故 障,或元器件(如二极管、三极管、电阻、电容等损坏能原因而CMOS中的硬盘配置参数出 错