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1.1 半导体中的电子状态与载流子 1.1.1 半导体材料的结构与能带形成 1.1.2 半导体中的载流子 1.1.3 半导体中载流子的统计分布 1.2 载流子的传输 1.3 pn结和金属-半导体接触 1.4 金属-绝缘层-半导体(MIS)结构 1.4.1 理想MIS结构及其工作状态 1.4.2 理想MIS结构的空间电荷分布 1.4.3 理想MIS结构的阈值电压 1.4.4 实际MIS 结构 1.4.5 MIS结构的电容-电压特性 1.5 MIS场效应晶体管

4.1反馈的基本概念及判断方法 4.2负反馈放大电路的一般分析方法 4.3负反馈对放大器性能的影响

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5.1.1 调频信号和调相信号 5.1.2 调角信号的频谱 5.1.3 调角信号的频谱宽度 5.1.4 小结

第1章 简介 第3章 图示法 第2章 模拟PLL的传递函数 第4章 数字PLL:传递函数与相关工具 第5章 跟踪 第6章 加性噪声的影响 第7章 相位噪声的影响 第8章 锁相捕获 第9章 振荡器 第11章 环路滤波器 第10章 检相器 第12章 电荷泵锁相环 第13章 数字（采样）锁相环 第14章 异常锁定 第16章 锁相调制器与解调器 第15章 PLL频率合成器 第17章 锁相环的其他应用