实验五误码测试实验 一、实验目的 1.熟悉误码测试仪的使用方法。 2.熟悉误码测试的电路和方法。 3.分析产生误码的原因及减少误码的方法。 二、实验仪器设备 HD8670型移动通信实验箱、误码测试仪等 三、实验内容 1.熟悉误码测试仪的使用方法。 2.熟悉误码测试的电路和方法。 3.分析产生误码的原因及减少误码的方法

一、实验目的: 1 了解译码器、数据选择器等中规模集成电路的性能及使用方法。 2 能够灵活地运用译码器、数据选择器实现各种电路

第九章功率放大电路 自测题 一、选择合适的答案,填入空内。只需填入A、B或C (1)功率放大电路的最大输出功率是在输入电压为正弦波时,输出基 本不失真情况下,负载上可能获得的最大 A.交流功率 B.直流功率 C.平均功率 (2)功率放大电路的转换效率是指 A.输出功率与晶体管所消耗的功率之比 B.最大输出功率与电源提供的平均功率之比 C.晶体管所消耗的功率与电源提供的平均功率之比 (3)在OCL乙类功放电路中,若最大输出功率为1W,则电路中功放 管的集电极最大功耗约为

第4章小结 一、反馈的判断方法 1.有无反馈 主要看信号有无反向传输通路。 2.正反馈和负反馈 采用瞬时极性法,看反馈是增强还是削弱净输入信号。 对于串联负反馈,反馈信号与输入信号极性相同;二 对于并联负反馈,反馈信号与输入信号极性相反

第一章 绪论 第二章 逻辑代数基础 第三章 逻辑门电路 第四章 集成触发器 第五章 脉冲信号的产生与整形 第六章 组合逻辑电路 第七章 时序逻辑电路 第八章 数模和模数转换器 第九章 半导体存储器

微电子从40年代末的第一只晶体管(Ge合金管 )问世,50年代中期出现了硅平面工艺,此工艺 不仅成为硅晶体管的基本制造工艺,也使得将多 个分立晶体管制造在同在一硅片上的集成电路成 为可能,随着制造工艺水平的不断成熟,使微电 子从单只晶体管发展到今天的ULSI 回顾发展历史,微电子技术的发展不外乎包括 两个方面:制造工艺和电路设计,而这两个又是 相互相成,互相促进,共同发展

目录 第1章绪论 第2章逻辑代数基础 第3章逻辑门电路 第4章集成触发器 演示文 第5章脉冲信号的产生与整形 第6章组合逻辑电路 第7章时序逻辑电路 第8章数模与模数转换器 第9章半导体存储器 第10章可编程逻辑器件

1、看懂基本交流放大、了解其元件作用并有数量级概念 2、了解图解法,掌握微变等效电路分析法

3.4.1 概述 3.4.2 乙类推挽输出级的工作原理 3.4.3 输出功率，管耗和效率的分析计算 3.4.4 达林顿组态

在数字电路或系统中,常常需要各种脉冲波形,例如时钟脉冲、控制过程的定时信 号等。这些脉冲波形的获取,通常采用两种方法:一种是利用脉冲信号产生器直接产 生;另一种则是通过对已有信号进行变换,使之满足系统的要求。 本章以中规模集成电路555定时器为典型电路,主要讨论555定时器构成的施密 特触发器、单稳态触发器、多谐振荡器以及555定时器的典型应用