1．掌握物流信息系统的概念及组成，了解物流信息系统中常用的信息技术。 2．掌握物流信息系统开发的策略和方法，以及各种开发方法的过程和优缺点。 3．了解常用的自动识别技术，尤其是掌握条码的结构和设计原则，了解条码技术的一般应用。 4．掌握EDI的内容和标准，以及EDI的具体工作过程，了解EDI系统在各个行业中的作用。 5．掌握EOS系统的作用、结构以及业务流程。 6．了解目前物流运输企业广泛采用的物流运输信息管理系统，掌握GPS和GIS的概念和基本原理，了解GPS和GIS在各个行业中的应用。 7．掌握POS系统的组成和特点，以及POS系统的基本运行步骤。 8．掌握电子商务的概念和物流电子商务中的安全技术，了解电子商务的交易过程。 §1 物流信息及管理 §2 物流信息技术

通过对本课程的学习，学生可掌握基本文学常识，提高对经典作品的阅读、鉴赏、理解和分析能力，进而提高自身的审美水平和对汉语的实际应用能力。本教材就是按照这一定位编写的。在知识结构上本书以高中后为起点向纵深拓展。选文部分共分六个单元，体现了古代和现代、中国和外国的比较，并注重文体的多样性，包括诗歌、散文、小说等多种文体。所选篇目既突出其文学地位和在思潮流派中的代表性，又注重文本内在的丰富内涵。由于篇幅有限，本书选编的文本以中短篇为主，部分篇幅较长的采取了节选的方式

对于SN1反应来说，在速度控制步骤的解 离过程中，中心碳原子由原来的sp3杂化的 四面体变为sp2杂化的平面或近于平面的碳 正离子，一定程度解除了拥挤状态（Ｂ张力 的解除）。中心碳原子上取代基越多，取代 基体积越大，过渡态中拥挤状态减轻的相对 程度就更大，速率的增加也就更显著

8.1概述 (1)吸收的目的:在化学工业种,将气体混合物种的各组分加以分离, 其目的是: ①回收或捕获气体混合物中的有用物质,以制取产品 ②除去工艺气体中的有害成分,使气体净化,以便进一步加工处理,如有害气体会使催化剂中毒, 必须除去;或除去工业放空尾气中的有害物,以免污染大气

实验6 顺序程序设计及跟踪调试实验 实验7 分支程序设计及跟踪调试实验 实验8 循环程序设计及跟踪调试实验 实验9 子程序设计及跟踪调试实验 实验10 宏定义程序设计及跟踪调试实验 实验11 汇编语言与C语言混合编程实验 实验12 多模块程序的运行及子程序库设计实验 实验13 I/O 接口中端口号存储单元内容的读写实验 实验14 常用系统中断调用实验 实验15 DOS中断服务程序设计、调用实验

真实感图形学是计算机图形学中的一个重要组成部分，它的基本要求就是在计算机中生成三维场景的真实 感图形图象。随着计算机图形学和计算机本身的发展，真实感图形学在我们日常的工作、学习和生活中已经 有了非常广泛的应用，象在计算机辅助设计、多媒体教育、虚拟现实系统、科学计算可视化、动画制作、电 影特技模拟、计算机游戏等许多方面，我们都可以看到真实感图形学在其中发挥了重要的作用，而且人们对 于计算机在视觉感受方面的要求越来越严格，这就需要我们研究更多更逼真的真实感图象生成算法

4.1 数控铣床及加工中心编程基础 4.2 FANUC系统加工中心编程原理 4.3 加工中心程序编制实例 4.4 宏程序编制

一、定义 二、病名源流 三、范围 四、病因病机 五、诊查要点 六、辨证论治

第一章 概述 1．1 SOPC 的概念 1．2 SOPC 系统设计流程 1．3 SOPC 系统开发环境 1．4 本书中的系统配置 第二章 SOPC 系统构架 2． 1 系统模块框图 2． 2 Nios CPU 2． 3 Avalon 总线 2． 4 外设 IP 模块 第三章 系统硬件开发 3．1 硬件开发流程 3．2 创建 Quartus II 工程 3．3 创建 Nios 系统模块 3．4 编译设计（Compilation） 3．5 编程（Programming） 3．6 下载设计到 Flash 存储器 第四章 系统软件开发 4．1 软件开发流程 4．2 软件开发环境 4．3 文件系统 4．4 软件开发工具 4．5 可配置的处理器硬件属性 4．6 Nios SDK 4．7 软件开发应用 4．8 使用.hexout 4．9 其它的开发板通信和调试方法 4．10 Nios SDK Shell 提示信息 4．11 在 Nios 系统中实现中断服务程序（ISR） 4．12 用户自定义指令 第五章 系统模拟与调试 5．1 软件配置 5．2 模拟设置 5．3 ModelSim 模拟 5．4 模拟结果分析 5．5 增加/删除波形图信号 5．6 片外存储器模拟 5．7 调试 第六章 系统设计实例 6．1 建立硬件需求 6．2 创建一个基本的 Nios 设计 6．3 GDB 调试 6．4 添加用户外设 6．5 RTL 仿真 6．6 Flash 编程 6．7 用户指令和 DMA 6．8 MP3 播放器 附录 1：Nios 嵌入式处理器 32 位指令集 附录 2：Nios 嵌入式处理器开发板－APEX 20K200E 附录 3：Nios 嵌入式处理器开发板－Cyclone_1C20 附录 4：Nios 嵌入式处理器开发板－Stratix_1S10 附录 5：Nios 嵌入式处理器开发板－Stratix_1S40

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析