第四章光源和光电检测器 4.1半导体的能带理论 4.2PN结的能带结构 4.3同质结和异质结 4.4发光二极管的工作原理 4.5半导体激光器的工作原理 4.6LD的工作特性 4.7光电检测器的工作原理和主要要求 4.8PIN和APD的工作原理 4.9光电检测器的工作特性

1 测量及测量方法 2 现代电气测量系统的基本组成 3 测量系统的静态特性 4 测量系统的动态特性 5 电气测量系统的主要技术指标

实验一. 交流电压和交流电流的隔离测量 实验二. 整流负载电流的测量和分析 实验三. 温度测量实验 实验四. 电场和磁场干扰实验

4.1 集成运算放大电路概述 4.2 集成运放中的电流源电路 4.3 集成运放电路简介 4.5 集成运放的种类及选择 4.4 集成运放的指标及低频等效电路 4.6 集成运放大的使用

3.1一工频正弦电压的最大值为310V,初始值为-155V,试求它的解析式 3.2三个正弦电流、l2和2的最大值分别为1A、2A、3A,已知2的初相为

3.1 多级放大电路的耦合方式 3.3 直接耦合放大电路 3.2 多级放大电路的动态分析

⒈多级直流放大电路的零点漂移问题 直接耦合方式电路的最大缺点是零点漂移问题。 解决零漂问题的办法是采用差动放大电路

⒈ 放大电路基本框图 ⒉ 放大电路性能指标

1 测量及测量方法 2 现代电气测量系统的基本组成 3 测量系统的静态特性 4 测量系统的动态特性 5 电气测量系统的主要技术指标

《电气与电子测量技术》课程教学资源（习题与答案）第三章 常用传感器及其调理电路、第四章 集成运放与模拟调理电路分析