设计一个单片机测控系统，一般可分为四个步骤： （1）需求分析，方案论证和总体设计阶段 需求分析:被测控参数的形式（电量、非电量、模拟 量、数字量等）、被测控参数的范围、性能指标、 系统功能、工作环境、显示、报警、打印要求等。 方案论证:根据要求，设计出符合现场条件的软硬件 方案，又要使系统简单、经济、可靠，这是进行方 案论证与总体设计一贯坚持的原则

系统的抗干扰性能的好坏是影响系统可靠性的重要因 素。 14.1 干扰的来源 影响单片机测控系统正常工作的信号称为噪声，又称 干扰。 影响指令的正常执行，造成控制事故或控制失灵，在 测量通道中产生了干扰，就会使测量产生误差，电 压的冲击有可能使系统遭到致命的破坏。 干扰一般都是以脉冲的形式进入系统的， 窜入单片机系统的渠道主要有三条：

1-1材料力学的任务及研究对象(The tasks and research objects of mechanics of materials) 1-2变形固体的基本假设(The basic assumptions of deformable body 1-3力、应力、应变和位移的基本概念 ( Basic concepts of force、 stress、 strain and displacement) 1-4杆件变形的基本形式(The basic forms of deformation)

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一、炎症的概念 炎症（inflamaation）是机体对致炎因素的局部损伤所产生的具有防御意义的应答反应。 二、炎症的原因 1、生物性因素 2、物理性因素 3、化学性因素 4、某些抗原性因素

用汇编语言对单片机进行编程其优点是目 标程序长度短、速度快，可直接对硬件进行操 作，因而在不太复杂的工业控制中得到广泛应 用。但使用汇编的麻烦在于它的可读性和可维 护性，特别是当程序没有很好注释的时候；汇 编程序的移植性也较差；并且，对复杂的控制， 汇编语言难以胜任。使用C语言可以很好的解 决这些问题