一、X射线的性质:波粒二重性,感光作用,荧光作用,电离作用,无折射,衍射现象,穿透能力强 二、X射线的强度:单位时间通过的光子数的多少 三、X射线的发生:真空中极高速度运动的电子碰撞阳极时产生射线 四、X射线谱:特征X射线的波长,激发电压 五、X射线的吸收:当X射线通过物质时,转变成其他形式的能量,只有一小部分穿过

当光波从一种介质传到另 种介质时,其传播速度和方 向会发生改变这种现象叫折 射。光在入射介质中的传播 速度与折射介质中的传播速 度之比,等于入射角正弦与 折射角正弦之比

1895年11月8日德国物理学家 伦琴在阴极射线实验中,偶然 发现附近桌上的荧光屏上发出 了光,伦琴用一张黑纸挡住管 子,荧光仍存在,而用一片金 属板就挡住了,他称这种射线 为X射线 伦琴(1845--1923)

一、X射线的获得 1895年伦琴(Roentgen)发现故称为伦琴射线 波长范围:10埃~0.01埃 欲观察其衍射现象 则衍射线度应与其波长差不多 晶体的晶格常数恰是这样的线度

发光二极管 发光二极管的结构和工作原理 注入式电致发光器件 PN结烧结在陶瓷或金属底座上透明环氧树脂封装

第一阶段:传统的光学装置及仪器,不能胜任对 复杂光信息高速采集和处理的要求 第二阶段:半导体集成电路技术,可以将探测器 件及电路集成在一个整体中,也可以将具有多个 检测功能的探测器件集成在一个整体中。其价格 低,体积小。例如,将图形、物体等具有二维分 布的光学图像转换成电信号的检测器件是把基本 的光电探测器件组成许多网状阵列结构,引人注 目的器件CCD就是一种将阵列化的光电探测与扫 描功能一体化的固态图像检测器件。它是把一维 或二维的光学图像转换成时序电信号的器件,能 广泛引用于自动检测、自动控制,尤其是图像识 别技术

§11.1 半导体发光二极管(LED) §11.2 半导体激光器概述 §11.3 半导体激光器原理 §11.4 半导体激光器特性 §11.5 同质结和异质结激光器 §11.6 分布反馈半导体激光器 §11.7 量子阱半导体激光器

第一部分、波的叠加原理 处理分立波列的叠加 第二部分、惠更斯——菲涅耳原理 处理连续分布的次波中心发出次波的叠加 3.1 波的叠加原理 3.2 两列单色波的干涉花样 3.2 相干光的获得 3.3 惠更斯——菲涅耳原理 3.4 菲涅耳衍射（圆孔、圆屏） 3.5 夫琅和费单缝衍射 3.6 夫琅和费矩孔衍射

一、偏振式光纤温度传感器 发展 最早、最快、最多的传感器之一。 分相干型和非相干型（本例）。图4-13

一、1575年，西班牙医生N.Monardes发现。 二、 1852年，Sir George Stokes对荧光产生的机理作了解释，并提出了“荧光”。 三、 1867年，首次用于分析测定。 四、1928年，Jette和West提出第一台光电荧光计。 五、1952年，商品荧光分光光度计出现