重要的萃取体系 1.重要元素的萃取 Hg:萃取光度法,溴甲酚得420nm,pH3-4.5,选择性很高,只有Ag+ 扰。 Cu:双硫萃取,pH1-4,HCl溶液,可与o,Ni,Mn,Pb,Zn,Cd分离。以Br-,I-掩蔽Hg,Ag,Au

绪言 第一章 圆柱公差与配合 第二章 长度测量基础 第二章 长度测量基础 • 测量的基本概念 • 计量器具和测量方法 • 测量误差及数据处理 第三章 形状和位置公差及检测 第四章 表面粗糙度及检测 第五章 光滑极限量规 第六章 滚动轴承的公差与配合 第八章 圆锥的公差配合及检测 第九章 螺纹公差及检测 1. 概述 2. 普通螺纹的互换性 3. 梯形螺纹简述 4. 螺纹测量 第十章 键和花键的公差与配合 第十一章 圆柱齿轮传动公差及检测

精度检测技术 一、测量器具的选择 1、测量器具选择时应考虑的因素 普通测量器测量器具的选择应综合考虑以下几方面的因素: (1)测量精度:所选的测量器具的精度指标必须满足被测对象的精度要求才能保证测量的准确度。被测对象的精度要求主要由其公差的大小来体现。公差值越大,对测量的精度要求就越低;公差越小,对测量的精度要求就越高。一般情况下,所选测量器具的测量不确定度只能占被测零件尺寸公差 的1/10~1/3,精度低时取1/10,精度高时取1/3 (2)测量成本:在保证测量准确度的前提下,应考虑测量器具的价格、 使用寿命、检定修理时间、对操作人员技术熟练程度的要求等,选用价格较低、操作方便、维护保养容易、操作培训费用少的测量器具,尽量降低测量成本 (3)被测件的结构特点及检测数量:所选测量器具的测量范围必须大于被测尺寸。对硬度低、材质软、刚性差的零件,一般选取用非接触测量,如用光学投影放大、气动、光电等原理的测量器具进行测量。当测量件数较多(大批量)时,应选用专用测量器具或自动检验装置;对于单件或少量的测量,可选用万能测量器具

第七讲 当代国际舞台上的中国 第一节新中国对外政策的制定与对外关系的发展 第二节改革开放以来中国外交政策的重大调整何对外关系的发展 第三节中国的国际的地位 第四节邓小平国际战略思想与中国外交政策的基本

有关从铂、钯含量很低的合金基废催化剂对过程的定常监控和铂与钯含量的定量分析, 中回收铂族金属工艺的论文较少。本文是对从采用了光电比色法(中K-60-y)。对废催 HMMOTA--3 Kavag IIHCII-o.5和i化剂及其回收产品的全定量分析,采用了原子 0.5等四种合金基废催化剂回收铂族金属工艺吸收法

零件的机械加工质量不仅指加工精度,而且包括加工表面质量。 机械加工后的零件表面实际上不是理想的光滑表面, 它存在着不同程度的表面粗糙度、冷硬、裂纹等表面缺陷 。虽然只有极薄的一层(几微米~几十微米),但都错综 复杂地影响着机械零件的精度、耐磨性、配合精度、抗腐蚀性和疲劳强度等,从而影响产品的使用性能和寿命,因此必须加以足够的重视

第十八章质谱法(Mass Spectrometry,MS) 应用: 质谱是应用最为广泛的方法,它可以为我们提供以下信息: （ a）样品元素组成; （b）无机、有机及生物分析的结构---结构不同,分子或原子碎片不同 荷质比不同) （c）复杂混合物的定性定量分-谱方法联用(GC-) d)固体表面结构和组成分析----光烧蚀等离子体---质谱联用; （e）样品中原子的同位素比。 历史: 1813年, Thomson使用MS报道了Ne是由Ne和24N两种同位素组成;随后,同位素分析开始发展。在30年代末,由于石油工业的发展

名词概念， 矿物,矿石,矿床 岩石,宝石,玉石彩石 矿物的物理性质:形态,颜色,光泽,条痕,硬 度,解理,断口 主要造岩矿物:石英,长石,角闪石,普通辉 石橄榄石

存储器概述 存储器—存放大量二进制数字的器件。 按材料分类 1、磁介质类软磁盘、硬盘、磁带 2、光介质类CD、DVD、MO 3、半导体介质类 FLASH ROM、 SDRAM、 EEPROM 按功能分类 主要分RAM和ROM两类,不过界限逐渐模糊 RAM: SDRAM,磁盘, ROM: CD, DVD, FLASH ROM. EEPROM 性能指标

存储器概述 存储器是数字系统和电子计算机的重要组成部分; 功能:存放数据、指令等信息。 按材料分类 1、磁介质类——软磁盘、硬盘、磁带 本课主要讲述 2、光介质类——CD、DVD 半导体介质类 3、半导体介质类——ROM、RAM等 器件 按功能分类 主要分RAM和ROM两类,不过界限逐渐模糊 RAM: SDRAM,硬盘